「X線回折装置」は、サンプルにX線を照射してその結晶の形を測定することにより、それがどのような物質であるのかを明らかにすることのできる装置です。様X線発生部:3kW(ターゲットCu、Co)。部:半導体検出器により0次元、1次元両モードに対応でき、高速測定が可能です。微小測定部:500μmφ以下の微小部が測定できます。薄膜測定部:薄膜部の、組成や配向、結晶性など多くのデータを得ることができます。小角散乱部:小角散乱ユニットと超小角用アナライザーを装備しています。データベース:ICDD-PDF2データベースおよびICSDデータベースを装備しています。一般的な粉末X線回折による定性分析はもちろんのこと、微小部や薄膜のX線回折が可能です。検定および分銅の校正に使用します。technology.。