日本ナショナルインスツルメンツ株式会社ECUの高い信頼性を約束する、欠陥生成ユニット(FIU)とは?組み込み制御装置の信頼性に関わるテストシステムにおいて、極めて重要なポイント、「ハードウェアの欠陥生成」。その実行方法や、PXIハードウェアで作成したHILテストシステムに欠陥生成ユニット(FIU)を組み込む方法を詳しく解説。多くのHIL(Hardware-in-the-Loop)テストシステムでは、ハードウェア欠陥生成を行ってECU(電子制御装置)とシステムの他の部分との間に信号欠陥を組み込み、特定の故障条件下でのECUの動作テストや特性評価、検証を行っている。欠陥生成ユニット(FIU)をテストシステムのI/OインタフェースとECUの間に挿入して、バッテリー消耗や短絡、開回路などの故障状態と通常操作の切り替えを行うなど、ECUの高信頼性に貢献している。必須のテストといえる。ピン間短絡について触れていく。NIのPXIベースのFIUユニットを使用することで、安全性や信頼性、接続性といった観点でのメリットも紹介していく。アンケート※「アンケート回答」「続きを読む」には、下記ボタンを押して会員登録あるいはログインしてください。製品・サービスを掲載する広告掲載について関連サービス・サイトキーマンズネットTechFactoryTechTargetジャパンITmediaはアイティメディア株式会社の登録商標です。