レーザ、オプトエレクトロニクスの最新製品をご紹介します。東京--NECは、従来の半分程度の学習データ量でも高い識別精度を維持できるディープラーニング(DL)技術を新たに開発した。識別精度の向上には、識別が難しい学習データをより多く学習することが有効であるが、学習に適した質の良いデータを十分に確保することが重要。新技術は、ニューラルネットワークの中間層で得られる特徴量を意図的に変化させることで、識別が難しい学習データを集中的に人工生成する。これにより、少ない学習データ量でも識別精度を大きく向上させ、ディープラーニングを適用したシステムの開発期間短縮に貢献する。具体的には、ディープラーニング技術の適用に必要な学習データ量を半分程度に削減する。この技術は、データの種類を問わず汎用的に適用可能であることから、専門家による調整が不要になる。これにより従来、学習データ収集時間やコストの高さが阻害要因となっていた製品の外観検査やインフラ保全など、さまざまなシステムの早期立ち上げを可能にする。