資料の非破壊が大前提である。大きな資料をそのまま分析装置にセットして測定するか携帯型装置で膨大な数のポイント分析を行うことになるが、大型装置による測定は装置そのものの制約が強く、また携帯型を利用する場合はその分析精度が十分とは言えない。最新のX線回折装置を用いれば、・・・・・ごく微量の試料でも、一般の研究室での測定が可能となる。このテクニカルノートのPDFは、会員サイトの「リガクジャーナル」コーナーにてダウンロード頂けます。新規会員登録される方はコチラ※会員サイトにログイン後、「2015年4月号」のページへ進んで頂くとリガクジャーナル(テクニカルノート:微小部X線回折による文化財の測定)のPDFをダウンロードできます。