(AFM)は、カンチレバの探針と試料表面との間に働く力を検出し、非常に高い分解能(時として原子分解能)で表面形状を得ることができます。AFMは、横方向だけでなく、高さ方向の情報も得ることができ、さらに、探針-試料間の相互作用から吸着力、硬さなどの試料特性を得ることもできます。WITecのAFMWITecの原子間力顕微鏡は、研究用グレードの光学顕微鏡に組み込まれており、カンチレバのアライメントや試料の場所探しが簡単に行えます。圧電体スキャナーで試料が走査され、表面形状像等の画像が表示されます。先進のビデオカメラシステムで得られる光学顕微鏡像により、興味ある観察場所の特定が高分解能で行えます。試料とカンチレバが同時に観察できるので、観察場所を素早く見つけ、アプローチすることが可能。AFMの切り替えはレボルバーを回すだけで切り替えられ、AFMと高倍率光学顕微鏡で同一視野を見ることができます。光学系統図カンチレバと試料を同時に光学顕微鏡で観察できるため、簡単にAFMでの観察位置の特定ができる。ディジタルパルスフォースモードディジタルパルスフォースモード(DPFM)は、非共振での間欠接触モードです。コンタクトモードでは損傷を与えてしまう柔らかい試料に対して有効で、他の試料特性も得られます。データを得ることができます。これらの測定は、1秒で数1000回測定しているので、通常のAFMの走査速度で取り込むことができます。DPFMのハードウェアは、プログラマブル変調器、高速データ収集システム、リアルタイムデータ処理ユニットで構成されています。すべての測定データを保存しており、データ処理ソフトで解析を行います。下記のフォームよりお気軽にお問い合わせください。*電話番号お問い合わせ内容(資料請求のご依頼や、ご質問・ご相談内容を自由にご入力ください。(プライバシー・ポリシー)」に従い適正な管理を行うとともに、個人情報の保護に努めます。ご提供いただきました個人情報につきましては、ご請求の範囲内で適切に利用いたします。areaCareers。