ホーム>分析メニュー・事例>分析パッケージ別分類>表面界面ナノサイズ分析>プラズマ処理ポリプロピレンの深さ方向分析GC-IB併用TOF-SIMSプラズマ処理ポリプロピレンの深さ方向分析GC-IB併用TOF-SIMS概要GC-IB(ガスクラスタイオンビーム)併用TOF-SIMS分析では、試料を表面からエッチングしながら深さ方向の情報をとることができる。プラズマ処理したポリプロピレンシートについて、GC-IBを併用した深さ方向分析を実施することで、生成する極性官能基(酸化)の表面および深さ方向の情報を得ることができる。