Abstractカーボンナノチューブ接合部内におけるジュール加熱ダイナミクスおよび温度プロファイリングの直接画像化カーボンナノチューブなどの基本的なナノ電子デバイス構成材における抵抗(ジュール)加熱を理解すること、特に長時間の電気的ストレス時の構造的・熱的変化に関して理解することは、依然として大きな課題である。10.1038/ncomms1429カーボンナノチューブなどの基本的なナノ電子デバイス構成材における抵抗(ジュール)加熱を理解すること、特に長時間の電気的ストレス時の構造的・熱的変化に関して理解することは、依然として大きな課題である。今回我々は、カーボンナノチューブ接合チャネルにおけるジュール加熱関連の影響をリアルタイムで画像化したことを示す。おいて、昇華性物質で完全に満たしたナノチューブとの電気接点を形成している。高密度電流を流すと、接点上(または付近)に抵抗性ホットスポットが確認される。封入物質の局所的昇華から明らかなように、これらのホットスポットは、その後、カーボンナノチューブに沿って移動・拡大する。このホットスポット端をマーカーとして用いることにより、ナノチューブの内部温度プロファイルを推定できる。