トップアプリケーション磁気メディアログイン磁気メディア磁気メディア記録密度向上の要求に応えるために、ハードディスクや磁気テープの構造はより薄い層状構造へと移行しています。表面分析法はナノスケールの保護コーティングや磁気記録層なとの現代の磁気メディアの評価に理想的な手法です。表面分析は磁気メディアの評価に加えて、読み出し/書き込みヘッドを始めとする構成部品の汚染検出にも重要な役割を果たしています。して確立されています。容易な非破壊測定にもかからわず、高い精度と感度をもって潤滑剤厚さの小さな変化を検出できます。よる潤滑剤厚さのマッピングにより、95mm磁気ディスク上の2nm厚の潤滑層が欠損していることがわかります。D-SIMS)スパッターデプスプロファイリングによる薄膜分析により、高密度記録媒体の実現につ必要な複雑な薄膜構造の組成や分布を直接見ることができます。正常な構造の分析に加えて、異物や積層構造の相互拡散を検出することができます。コンピューターのハードディスクをXPSスパッターデプスプロファイリングで分析すると、極めて薄い表面保護層や磁気記憶層の組成等がわかります。(TOF-SIMS)TOF-SIMSによる表面分析をハードディスク表面に適用することで、潤滑剤の組成や添加物と存在するであろう不純物の同定に用いることができます。質量スペクトルの開裂パターン(指紋)が有機化合物を直接的に同定します。TOF-SIMSによる表面の質量分析により得られる開裂パターンを用いて特定の潤滑剤や添加剤、不純物を同定できます。表面分析装置は、磁気メディアや読み書きヘッドの微小領域の汚染や特徴的な形態を検出して分析することがサブミクロンの空間分解能で行うことができます。像から、コバルトが腐食生成物として磁気媒体のテクスチャーに添って偏析していることがわかります。クラブ・ファイ会員向けコンテンツ上記でご紹介したアプリケーション以外にも、表面分析関連の技術資料を公開しております。クラブ・ファイに会員登録いただくと、アプリケーションダウンロードのほか、各種コンテンツをご利用いただけます。ダウンロードいただける技術資料の一例です。詳しい説明はこちらをご覧ください。ダウンロードには、会員登録が必要です。お手数ですが、こちらから会員登録をお願いいたします。新規会員登録クラブ・ファイに会員登録いただくと、技術資料(アプリケーション)のダウンロードや、各種コンテンツをご利用いただけます。薄膜とコーティングバイオメディカル製薬クラブ・ファイへ会員登録後、ソフトウェアアップデートファイルやカタログなどのダウンロードができます。ログイン新規会員登録お問い合わせ資料請求やお見積もり、修理・メンテナンスなどについても、お気軽にお問い合わせください。ELECTRONICS。