その構造は高密度・複雑化とともに微細化の一途をたどり、小型で大容量、低ESR化をはじめ、地球環境保護にも対応した部品の開発が積極的に進められています。Toothなどマルチメディア機器を革新していく上で必要不可欠なキーデバイスです。その性能や安全性を確認するための信頼性試験は今後ますます欠かせないものとなっています。コンデンサの絶縁劣化特性の自動評価を可能にした「コンデンサ絶縁劣化試験システム」を開発。このシステムは任意の高温(高湿)試験環境下においてコンデンサに電圧を印加し、絶縁破壊による漏れ電流を捉えます。コンデンサの絶縁劣化特性を自動的に評価することができます。標準500チャンネル、最大1,000チャンネルまで増設できます。絶縁抵抗を10kΩ~100MΩの範囲で測定することができます。25チャンネル単位で試験条件を設定することができます(印加電圧値は100チャンネルごと)。リアルタイムに表示、確認できます。故障発生件数のヒストグラム、故障率曲線および累積ハザードによるデータ解析により絶縁劣化特性を評価できます。ボード実装タイプ、コンタクトプローブタイプなど、各種のコンデンサ搭載治具に対応します。reservedプライバシーポリシーサイトご利用にあたって。