評価、解析用システムを中心とした製品販売をしています。高精度の測定を低価格で実現したシステム製品です。ADCで高分解能で測定し、無線/有線でのデータ通信が可能な測定モジュールです。アナログ出力センサーを接続すれば簡単にIoT、M2M環境を構築できます。付属のGUIソフトウェアにより、測定結果をリアルタイムでグラフ表示、保存、Limit管理、各種制御が可能です。高精度測定や連続測定に最適です。(設計仕様100dB)個別温度制御システム半導体製品の温度試験で従来用いられていたサーモストリーマやホットプレートを代替する装置です。ヒータをデバイスに直接あて加熱します。・素早い加熱でテスト時間短縮・小型ヒータで対象物だけを直接加熱。・ヒータ部はお客様の状況に合わせカスタム対応。テストシステムソフトウェア、ファームウェアを受託開発します。ドライバからアプリケーションまで幅広く対応しています。なかでも画像処理技術に強みを持っています。シミ、キズを定量的に自動で検査・抽出します。レンズモジュールの評価・解析や出荷/受入検査にご使用いただけます。お客様の評価環境にも実装可能なシミ、キズの検出アルゴリズムをソフトウェアライブラリーとしてご提供致します。印字不良検査のためのシステム。カスタム対応でお客様のご要望を実現します。応じて最適な画像検査システムを提供します。※その他必要に応じてカスタマイズ致します。・価格ベースシステム(画像検査ソフトウェア+カメラ+照明):350万円〜画像検査ソフトウェアのみ:50万円〜※お客様のご要望、ご予算に合わせて提案致します。・その他にも色合い検査、形状検査(パターンマッチング)、ドットずれ、ドット飛び検査も実現可能です。ディスプレイ検査、etc)・サンプル(画像)をご提供頂ければ試行致します。