高い空間分解能と正確度で表面電位を計測するため、従来のKPFM手法よりも計測性能が向上しています。モード、走査アルゴリズム、およびブルカー独自のプローブ開発により実現しました。KPFMは独自の方法で極めて正確度の高いプローブ間表面電位計測を行い、異なる種類の材料でも整合性のある計測を実現します。共に使用して、多様なサンプルについて相関性の高いナノスケールのトポグラフィー、電気特性および機械特性のマッピングを同時に得ることができます。KPFMは従来のKPFM手法の使いやすさに関する無視できない問題を克服しました。モードを使用することにより、あらゆる熟練度のユーザーが専門技術者レベルの品質でデータを収集できます。