(STEM)に新開発の多分割検出器を導入し、原子レベルに絞った電子線が材料局所構造から受ける種々の相互作用を局所的且つ選択的に抽出する新規STEM法を開発し、それを積極的にセラミック材料界面構造解析に応用することを目指した。その結果、複雑なセラミックス界面における軽元素カラムの直接観察に成功し、複雑構造界面におけるすべての原子構造およびドーパント偏析構造を同時に直接決定することに成功した。セラミック中の局所的な電場の観察にも成功した。セラミックス転位において発現する特異な磁性とその起源に関して解明することに成功した。