近年、イメージングプレートや半導体検出器による回折環計測及びそれらにより得られる二次元X線回折データを解析することによるX線応力測定技術の発展には目覚しいものがあり、最近では高速性や小型可搬性を活かした製造現場や実機の残留応力状態の評価への用途が拡大しつつあります。イメージングプレートと新解析理論cosα法を用いた新しいX線応力測定技術では、現在の世界標準法に比べてほぼ10倍高速であり、かつ、装置重量や大きさを約1/10にすることが示され、国内3社から装置化されるに至っています。これらの装置の主要部であるX線検出器技術及びデータ解析理論はいずれも日本の技術であり、この分野における世界貢献を果たしつつあります。本技術を調査・研究してその測定技術の標準化を進める研究会を立ち上げることは非常にタイムリーでかつ有意義な活動が期待できると確信し、ここに新規研究会の設立を提案することに至りました。本研究会では、回折環計測による本X線応力測定技術の有効性、従来技術との比較などを調査研究し、最終的に測定技術の標準化にまとめ上げることを主目的としています。非破壊検査総合シンポジウ...。