高知コアセンターの磁力計の応答曲線を図12に示す。lobe)が存在することも分かる。)に注意が必要である。そのほかの磁力計の応答曲線の例を図13に示す。これは,ボア径4.2cmのu-channel専用の磁力計の例であり,感度幅が中心から約5cm程度となっている。ボア径7.6cmの汎用の磁力計では約10cmになる。このように,センサー応答曲線は機器によって異なることに注意が必要である。†パススルー測定においてはセンサー応答曲線が幅を持つことから,磁力計の出力はサンプルの磁化とセンサー応答曲線の「コンボリューション(畳み込み)」になっている。図13に示すボア径4.2cmのu-channel専用磁力計のセンサー応答曲線の場合は,約10cmにわたるサンプルの磁化が寄与していることになる。したがって,測定間隔をいくら細かくしても,生データのままでは分解能は向上しない。不均質な磁化をもつサンプルでは,センサーの感度中心にない部分の磁化に大きく影響されて,みかけの変動(極端な場合は逆転!)が現れる場合もある。lobeの部分に前後より非常に強い磁化をもつサンプルの場合,みかけの測定結果がどうなるか思考実験をしてみると良い。IODP船上での半割コアのパススルー測定データの解釈には,センサー応答曲線との関係を理解しておくことが必要である。U-channelの測定データから充分な情報を引き出すために,デコンボリューション(逆畳み込み)手法が開発されてきた。以上の距離までの測定,そしてサンプル位置の精密な制御が必要である。実際の適用例を図15に示す。(2004)を参照されたい。いうソフトが公開されている。いうソフトと親和性が高く,センサー応答曲線を準備できれば,かなり容易にデコンボリューション解析を行うことができる。図15デコンボリューションの例。させることによって行う.一方,パススルー超伝導磁力計システムにおける交流消磁は,一定振幅の交流磁場が発生しているコイルのなかをサンプルが通り抜けて出て行くことによって行われる。サンプルが感じる交流磁場の減衰レートは,サンプルの駆動速度(トレーの移動速度)に依存することになる。消磁は一軸づつ順に行われる。磁力計センサー部と消磁コイルを一列に配置することによって、消磁と測定の繰り返しを完全に自動化することができる。キューブ試料の消磁は,u-channelトレイにセンサー応答曲線(感度幅)以上の間隔で試料を並べることにより,8個(高知コアセンターの場合)を全自動で段階消磁および測定可能である(12段階程度で40~50分→1日100個程度可能)。交流磁場の減衰する速さにも支配される。消磁コイルに加えて,IRM用コイル(パルスマグネタイザー)をパススルー磁力計システムに接続して一列に配置することで,IRM着磁および消磁・測定をも自動化することが可能である。常用には以下の問題がある。交流消磁で消磁しきれないほど,トレイが強烈に磁化してしまう。磁化が強すぎて測れないことがある(特にU-channelの場合)。U-channelの場合、測っている間(1.5mを1cm間隔で30分程度)にIRMが減衰していく。高知コアセンターの場合,パススルーシステムからIRM用コイルを分離して設置している。