半導体メーカーのSTマイクロエレクトロニクス(NYSE:STM、以下ST)は、プローブを使用せずに電気検査した半導体ウェハの製造に、世界で初めて成功したことを発表しました。Identification)IC等を含むウェハを検査することができます。検査時間の短縮、製品コストの低減といった潜在的なメリットがある他、RF回路を実際のアプリケーションに近い条件で検査することができます。Award」を受賞しています。Sort)が進化したもので、最終的にパッケージングされた製品の組立・検査を行う前のウェハ製造工程における最終段階になります。この段階で加工済みウェハには、ダイと呼ばれる同一の回路がアレイ状に配置されています。Equipment)に接続されたプローブ・カードが各ダイの上に移動し、顕微プローブがダイ上のテスト・パッドに接触します。その後、ATEによる検査でダイが完全に機能することを確認し、機能しないダイはパッケージング前に廃棄されます。最近開発されたEMWSは、ATEが発生させた電磁波を各ダイに内蔵された超小型アンテナが受信し、電源供給・通信を行います。この方法により、ダイ上のテスト・パッド数が減少するため、ダイが大幅に小型化されます。消費電力の高い製品を検査する際はプローブで電力を供給する必要がありますが、消費電力の低い製品は、STの新技術(1)により完全に非接触な検査が可能です。次の様にコメントしています。「検査技術の飛躍的な発展は、STの品質問題ゼロへの取り組みの成果を示すもので、特にSTの低消費電力RF製品を採用しているお客様にメリットを提供します。非接触検査では検査範囲が広がり、RF回路、アンチ・コリジョン・プロトコルおよび内蔵アンテナをお客様のアプリケーションと同じ動作条件で検査するため、品質と信頼性が大幅に向上します。非接触モードでは検査の並列度が向上するため、非接触検査によって検査時間が大幅に短縮されます。標準的な接触検査で時々発生するパッド損傷が無くなるため、歩留りが向上します。(1)技術情報STの非接触EMWS技術は、特許取得済みの電磁濃縮・拡散と呼ばれる手法を用いています。これは、一緒に接続された2個以上のアンテナからなる受動構造を利用し、「電磁レンズ」として機能する直列共振を発生させます。大きな表面からの電磁エネルギーを小さな表面(1個のダイなど)に濃縮させるか、あるいは小さな表面からのエネルギーを大きな表面に拡散させます。装置に内蔵することができる電磁濃縮・拡散器により、ダイと外部システム(ATEなど)の間の通信距離を少なくても1桁延ばすことができます。給電し、完全に非接触な検査を行うことができます。STマイクロエレクトロニクスについてSTマイクロエレクトロニクスは、多種多様な電子機器向けに革新的な半導体ソリューションを提供する世界的な総合半導体メーカーです。Property)ポートフォリオ、戦略的パートナーシップ、大規模な製造力を駆使することにより、マルチメディア・コンバージェンスとパワー・アプリケーションにおいて他社の追随を許さないリーダーとなることを目指しています。2010年の売上は103.5億ドルでした。詳しい情報はSTのホームページをご覧ください。»)関連情報へのリンク本プレスリリースは発表元企業よりご投稿いただいた情報を掲載しております。お問い合わせにつきましては発表元企業までお願いいたします。【企業の皆様へ】企業情報を掲載・登録するには?御社の企業情報・プレスリリース・イベント情報・製品情報などを登録するには、企業情報センターサービスへのお申し込みをいただく必要がございます。詳しくは以下のページをご覧ください。Japanは、CIOとITマネージャーを対象に、ビジネス課題の解決とITを活用した新たな価値創造を支援します。ついて運営会社サイトマップ当サイトは最新ブラウザでの閲覧を推奨します。permission.このサイトでは、利用状況の把握や広告配信などのために、Cookieなどを使用してアクセスデータを取得・利用しています。これ以降ページを遷移した場合、Cookieなどの設定や使用に同意したことになります。Cookieなどの設定や使用の詳細、オプトアウトについては詳細をご覧ください。