お問い合わせ関連リンクMembersOnlyA02-IIIA02-III班:SOIピクセル検出器による自己像直接検出型タルボ・ロー干渉計の高度化1895年にX線がレントゲンによって発見されて以来、X線透視撮影は医療やセキュリティー、非破壊検査など様々な分野で活用されてきたが、軽元素材料などはX線に対して比較的透明であり、十分なコントラストが得られないという問題がある。X線位相、小角散乱イメージングはこの欠点を克服し得る技術として各方面からその発展が期待されており、実験室系の装置で測定可能なX線タルボ及びタルボ・ロー干渉計が注目を集めている。我々は、埋め込みX線ターゲットという独自のX線光源を用いることにより、X線タルボ・ロー干渉計の3枚のX線用格子のうち、光源格子と吸収格子の2つを用いない自己像直接検出型の干渉計を実証した。この光学系を発展させ、2次元の自己像直接検出型の干渉計へ発展させた。現在用いている2次元検出器は蓄積型のSi-CCDであり、用いるX線のエネルギー分散に起因する計数値ばらつきのため、露出時間が非常に長くなっており、位相感度も制限されている。X線撮像装置の性能を飛躍的に向上させることを目指す。X線撮像装置の実証を目指す。