Safety」を発表した。LBISTソリューションなどを含むビルトインセルフテスト(BIST)テクノロジが提供され、これにより、従来のロジックBISTテクノロジと比較して、インシステムテストに要される時間を最大10倍短縮することを可能としたという。DefectSim」などが提供される。SafetyScopeおよびKaleidoScopeへの連携リンクなども提供されるという。Scan(観測スキャン)テクノロジを活用することで、インシステムロジックBISTの時間を5分の1に短縮することができたとしている。※本記事は掲載時点の情報であり、最新のものとは異なる場合があります。Corporation。