1-800-833-9200お問い合わせご意見、ご質問、フィードバックについては電子メールでお問い合わせください。usBreadcrumbTektronix信号発生器AFG31000シリーズ任意波形/ファンクション・ジェネレータAFG31000シリーズ任意波形/ファンクション・ジェネレータInstaViewTMテクノロジを搭載したAFG31000シリーズは、波形生成アプリケーション、テクトロニクス独自のリアルタイム波形モニタリング機能、最新のユーザ・インタフェースを備えた高性能AFGです。InstaViewInstaViewTMを実際にご覧ください。テクトロニクス独自のInstaViewTMテクノロジにより、被測定デバイス(DUT)における実際の波形をAFGで表示できます。オシロスコープやプローブなど、他の機器を用意する必要がないため、テスト時間を短縮できるだけでなく、テスト結果におけるインピーダンス不一致の心配がありません。InstaViewテクノロジーの詳細を見るダブル・パルス・テストを迅速にAFG31000シリーズによるダブル・パルス・テストダブル・パルス・テストのセットアップと実行を動画で見るAFG31000シリーズは、ダブル・パルス・テスト・ソフトウェアを内蔵した、初のファンクション・ジェネレータです。タッチスクリーン・ディスプレイ上でさまざまなパルス幅(20ns~150μs)を持つ2つの波形を簡単に直接生成できます。外部PCアプリケーションや手動プログラミングは一切必要ありません。MOSFETやIGBTなどのパワー・デバイスのスイッチング・パラメータを測定し、動的特性を評価できます。アドバンス・モード3つのステップで波形シーケンスを簡単にプログラムできます。標準で最大16Mポイント/chの波形メモリを備えており、連続モードで長い波形も正確に生成できます。可変サンプリング・クロック技術により、波形データを取りこぼす心配もありません。アップグレードによって、より高い要件のテストにも対応できるため、複雑な波形も従来のAWGの10分の1のコストで生成/プログラムできます。オプションのアップグレードでは以下の機能を追加できます。ArbBuilderArbBuilderTMを使用すれば、どのような波形も簡単に生成できます。任意波形編集ツールのArbBuilderを内蔵しており、任意波形の生成、編集、転送に必要なすべての機能を利用できるため、PCを接続したりファイルを転送する必要がありません。振幅、オフセットのデータは波形に保存されているため、正規化された任意波形データを読み込んだ後に、設定を調整する必要がありません。洗練されたユーザ・インタフェース大型タッチスクリーンを装備したAFGなら、操作方法も短時間で習得でき、効率的に作業を行えます。スマート・デバイスを思わせる9型スクリーンは、ピンチ/ズーム/スクロール操作に対応しており、簡略化されたメニューを使用して簡単に設定項目やパラメータを特定できます。頻繁に使用する項目では、ショートカットも利用できます。多チャンネル対応AFG31000シリーズ-MultiSync2台のAFG31000シリーズを同期させることができます。DUTのテストに2チャンネル以上の波形を使用する必要がある場合、マルチシンク機能を使用することで2台以上を同期させることができます。オンスクリーン・ウィザードを使用すれば、ケーブルの接続から設定まで、わずか3分ほどで必要な手順がすべて完了します。可変サンプル・クロック:1μS/s~2GS/s最小波形長:168ポイント(最小単位は1ポイント)ノイズ/ジッタが10分の1に低下ジッタの比較:AFG31000シリーズ(上の波形)と旧機種のAFG(下の波形)低ノイズ・フロア、出力振幅は1mVppと、旧世代機種の10倍以上のノイズ/ジッタ性能を備えているため、確実で優れた信頼性の高いテストが可能になります。オンラインによるアップグレードソフトウェアベースのアーキテクチャの採用により、AFG31000シリーズをWebサイトから直接アップグレードしていただけます。新しいオプションも用意されており、ニーズの変化にも対応できます。$14,400構成と見積りアナログ回路の特性評価アナログの世界へようこそ。すべての物理量はアナログ信号として取込まれ、表現されます。そのため、増幅器、フィルタ、コンバータといったアナログ回路の性能を評価する必要があります。自動車から医療機器、家電に至るまで、現在普及しているほとんどの電子機器にはセンサが使用されています。AFGで波形を取込み、再現することでトラブルシューティングや検証を行うのは、従来は非常に困難が伴う作業でした。製品を市場に出す前に、仕様を満たしていることを確認しなければならないため、エンジニアが実施するテスト・ケースは膨大な数となります。このプロセスは時間がかかり、また何度も繰り返す必要がありました。最大128Mポイントの波形メモリと内蔵不揮発性メモリにより、すべての波形とテスト・ケースの保存が可能クロックまたはパルスによるシステム同期デジタル設計では、回路のすべての部分がクロックのタイミングに同期して動作します。大規模なシステムの場合、すべてのデバイスが正しく、確実に機能するように、トリガ信号を使用して協調動作させる必要があります。AFG31000シリーズは、そうしたクロックやトリガ・パルスを生成するためのコスト効果の高い手段を提供します。低ジッタ・レベルで信頼性の高いトリガ・システムの構築が可能ダブル・パルス・テストダブル・パルス・テストは、MOSFETやIGBTなどのパワー・デバイスのスイッチング・パラメータを測定し、その動的特性を評価するための手法です。ダブル・パルス・テストでは、ターンオン、ターンオフ、逆回復(リバース・リカバリ)などのパラメータが測定されます。テストは以下のような目的で実施されます。研究者や教育者は、研究や教育を行うために、幅広い種類の信号を必要としています。ガイガー=ミュラー計数管の出力をシミュレートするための一連のパルスといった単純なものから、長い、変調されたベースバンドIQまで、テストの種類は多岐に及びます。...期間ご不明な点がございましたら、お気軽にお問合せください電話でのお問い合わせご質問は、お電話にてお問合せください(月~金)。当社のエキスパートがお答えします。PST)今すぐチャットで。