分析サービスカーエレクトロニクスやライフサイエンスの分析・解析で研究開発をサポートします。Spectroscopy)では試料表面(~数nm)を構成する元素、組成だけではなく化学結合状態も調べることができます。分析対象元素はLi~Uです。プローブに用いるX線のビーム径は最小10μmから設定可能であり、微小領域の分析にも対応しています。中和銃を用いた帯電補正による絶縁物の分析、Arイオンスパッタリングを併用することによる深さ方向組成分析も可能です。試料表面にX線を照射すると電子(光電子)が放出されます。本装置のX線照射で放出される光電子の深さは試料表面(~数nm)であり、最表面の元素情報を得ることが可能です。事前情報があればよりスムーズに進めさせていただきます。検出下限はどの程度でしょうか?元素によっても異なりますが、0.5atomic%程度です。わず、粉末も測定可能です。分析試料はどのように送付すれば良いでしょうか?アルミホイルや薬包紙に包んでお送りいただくか、スチロールケースに入れてお送りください。分析を依頼する際の注意点はありますか?試料を素手で触ると、試料が汚染されて分析に影響してしまいますのでご遠慮ください。化学結合の情報(酸化物や金属、官能基)は得られますが、FT-IRのように高分子材料や有機化合物の同定は苦手としています。試料の調整(切断、洗浄)から作業を依頼することは可能ですか?切断設備を所有しておりますので、大きい試料のままでも構いません。試料を超音波洗浄することも可能です。データはどのような形式でいただけますか?測定前にご指定のフォーマットもしくは弊社のフォーマットにて報告書を作成致します。深さ方向組成分布の数値データはエクセル形式で提出します。深さ方向分析の横軸をSiO2換算ではなく、実測値を用いて変換可能ですか?深さ方向分析で膜界面が決定できれば、断面SEMやTEM等の実測値を用いて変換可能です。立会い測定は可能ですか?弊社にお越し頂き立会いでの測定が可能です。測定後の試料は返却してもらえますか?サンプリングの際に小片化した試料も含めて返却しております。お預かりする試料の小片化に制約があればその旨お伝え頂けましたら対応いたします。0120-31-6620オペレーターが内容確認後に担当よりご連絡致しますので回答にはお時間をいただきます。SEM/FE-SEMによる高倍率での表面形態観察を実施します。CCDなどの光学顕微鏡による形態観察を実施します。試料表面に含有される元素(B~U)の定性・定量分析を実施します。製品や材料の主成分を特定することで、お客様の研究開発をサポート致します。