分析Analysis信頼性の高い分析を行うために必要なのは、適切な作業環境と最新鋭の分析機器、そして確かな技術を持った分析技術者です。分析部門では、高純度材料メーカーとして蓄積してきた知識や経験を生かし、製品の品質保証や新材料開発を行うために重要な分析評価を行っています。弊社製品をご購入いただいたお客様への追加分析対応の他、分析のみのご依頼にも対応いたします。分析料金表について記載されている金額は標準的な価格になります。詳細は弊社営業部までお問い合わせください。詳しくはこちらからお問い合わせください。スクロールしてご覧いただけます。ついて記載されている金額は標準的な価格となります。分析方法につきましては別途お問い合わせください。いただく場合があります。サンプル費用を申し受ける場合があります。ISO17025認定機関による分析をご希望の場合は別途お問い合わせください。詳しくはこちらからお問い合わせください。主な設備クリーンルームとクリーンドラフト高純度製品の分析を行う場合は特別な環境下にて前処理を行い、分析を行っています。※クラス100とは、1立法フィート(約28L)中に含まれる大きさ0.5μm以上の塵埃の数が100ヶ以下であることを表します。周期表上のほとんどの元素を同時に測定可能であり、その測定範囲はppbからppt濃度領域に及びます。励起源はICP-MSと同じですが、励起された光を分光器により分光し、そのスペクトルを測定する装置です。光の波長は元素特有であり、また光の強度はその元素の量に比例することから、高感度な定性・定量ができる装置です。ダイナミックレンジが4~5桁におよび多元素同時に定量できるという特徴を持っています。高周波電流にて試料を燃焼させます。試料中のガス成分を赤外線検出器にてスペクトルを測定することで炭素、硫黄の定量分析をする装置です。粉末あるいは固体試料にX線を照射すると試料内の結晶より回折X線が検出されます。この回折X線の位置や強度について、測定データと標準データを比較し定性分析(同定)をする装置です。X線回折装置と組み合わせて使用します。試料を高温に加熱することにより、温度上昇による結晶構造変化や物質変化(状態図)などの情報が得られます。不活性ガス雰囲気や、真空状態での測定も可能です。細い入射電子線を試料に照射し、放出された二次電子線を用いて画像にすることで、表面の凹凸や試料形状・大きさを観察する装置です。細い入射電子線を試料に照射すると、試料から様々な電子・電磁波が放出されます。分散させた粉末試料にレーザー光を照射すると回折/散乱現象が起こります。この光強度分布は粒子の大きさに依存するので、その現象から粒子径を計測する装置です。