開発初期によく欠陥があるものです。station)またはE-beamでIC內部の信号を直接観測することが可能で、試作回路(Prototype)につき、設計ミスやディバグからフォトマスクの改版までにやり直し作成のコストを削減し、開発時間も短縮できます。アジアでFIB回路修正技術を導入するのはiSTが初めて、IC設計業の過去の検証モデルを覆すことになりました。IC設計企業のコンセプト段階から量産・発売までの時間を大幅に短縮でき、研究開発コスト費の削減が可能です。