検査対象物を載せるステージを300mm角の正方形タイプにしたことで、大型の対象物も向きを変えずに測定できる。本体台座に高剛性・高耐震性が特長の石定盤(花崗岩)を採用し、安定した高精度測定が可能に。形状測定を効率的に行える測定顕微鏡「STM7」を発売した。半導体部品など、さまざまな部品の製造・組み立て現場で、対象物を傷付けずに効率的な測定ができる。今回開発されたSTM7は、検査対象物を載せるステージを、従来の250mm×150mmから300mm×300mmの大型で正方形のタイプにした。これにより、半導体の300mmウエハーやプリント基板などの大型対象物(サンプル)も向きを変えずに測定できる。小型のサンプルでは、複数を同時にステージに置けるため、効率的な測定が可能だ。本体台座に高剛性・高耐震性が特長の石定盤(花崗岩)を採用したことで、安定した高精度測定が可能だという。測定支援ソフトウェア「STM7-BSW」と同社の顕微鏡用デジタルカメラを併用することで、複雑な形状の部品でも簡単な操作で正確に測定できる。Excelに出力可能で、レポートの作成も効率的にできるという。3タイプにそれぞれ手動と電動がある。国内をはじめ、世界で順次発売する。FAフォーラムのメールマガジンの配信を2014年7月よりスタートしました。FAニュースをはじめ、産業用ロボット、インダストリー4.0、PLCや産業用ネットワーク、制御システムセキュリティなど注目の話題をまとめてお届けしています。メルマガ配信のご登録をお願い致します。SNSfacebooktwitterITmediaはアイティメディア株式会社の登録商標です。