製品とサービスDCパラメトリックテスト用インターフェースDCパラメトリックテスト用インターフェース2017.01.13テスターインタフェース製品、製品とサービスDCパラメトリックテスト用のコネクターヘッドの設計・製造・販売をおこなっております。低コスト化と効率化(研究開発用)近年、ウェハの大口径化とプロセスの微細化により、被測定デバイス数と測定時間が増加し、パラメトリックテストシステムの低価格化と測定の高速化に対する要求が増加しています。測定データの増加に伴い、データ解析をいかに効率よく簡単に短時間で処理するかが、開発期間を短縮する上で重要になってきます。弊社では、測定と解析機能を含む、DCパラメトリックテスト用ソフト「PROMETEUS」と、カスタマイズ可能なコネクターヘッドを提供することで、プローバのタイプに依存しないシームレスな環境と、低価格かつ高機能な新しいパラメトリックテスト環境を提案しております。低コスト化と効率化(研究開発用)弊社は長年に渡る各種テスタアプリケーションおよびテスト用I/F等の関連商品の販売を通じて蓄積された技術力をベースに、DCパラメトリックテスト用のコネクターヘッドの設計・製造・販売をおこなっております。DCパラメトリックテストの分野においては、標準では用意されていない、パラメトリックアナライザとフルオートプローバとのコネクターヘッドをご提供します。プローブカードの着脱を容易にする汎用的なものから、お客様のご要求に応じたカスタマイズを施したものまで、各種のコネクターヘッドの作成が可能です。このコネクターヘッドにより、パラメトリックアナライザとフルオートプローバの接続を容易に実現でき、コストパフォーマンスに優れる測定環境の構築がおこなえます。時のProbe-Card輻射熱を軽減しTester内部への熱影響を抑えテスタ本来の高精度な測定を可能に出来るボルトONにて組み込み可能な冷却アタッチメントです。通常使用でオートカードチェンジャーが使用できます。Agilent4070シリーズでの200°C高温プローブテスト環境を行う為の冷却機能付きプローブカード冷却アタッチメント。ATEサービス製セラミックブレード式セラミック基板プローブカードが必要)冷却アタッチメントから噴出するパージエアにてプローブカード上面の空気層及び、テスタのポゴ座近傍を冷却します。パラメトリックテスタへの熱影響を無くし最適な測定環境を構築します。低コスト化と効率化(研究開発用)ポゴ座近傍を冷却する。パラメトリックテスタへの熱影響を無くし最適な測定環境を構築する。最適な冷却機構により、プローブカード表面は約30?40°Cに成り良好な測定が可能と成ります。