1-800-833-9200お問い合わせご意見、ご質問、フィードバックについては電子メールでお問い合わせください。Innovation今よりもっと速くエンジニアの時代が到来しました。当社のエキスパートが皆さんの未来を形作るお手伝いをいたします。オンのデバイスが普及するにつれて、電力効率は設計上の重要な考慮事項になります。研究室およびウエハ・テスト環境でのSi、SiCおよびGaNのMOSFETのテストを安全、正確、高速に実行できます。SiCおよびGaNを設計に取り入れた結果生じるテストの課題とその解決方法について説明します。最終製品の電力消費を最小化し、バッテリ寿命を最大化する方法を探ります。データ・レートは上昇しています。測定に関する詳細情報をご覧いただけます。自動化やデバッグ機能を含む、PCIe、SAS、SATAコンプライアンス・テストの効率化を進めます。PAM4テストを使用して400G製品の開発をスピードアップし、技術の進歩を効率的に検証します。Type-Cデバイスでコンプライアンス・テストに最短で合格します。HDRビデオのテストとモニタリングを簡略化します。クラウド・ビデオ配信ネットワークの真の可視性を得て、より効率的な品質およびコンプライアンスを実現します。SDIの世界とIPの世界の間のナレッジ格差を埋め、放送エンジニアとIT専門家との間のコラボレーションを促進します。業界で最も強力なテストおよびモニタリングのツール・セットを使用して、ビデオ配信を加速し、進化を引き起こします。コネクテッド・カーモバイル化»データ・レートは上昇しています。測定に関する詳細情報をご覧いただけます。自動化やデバッグ機能を含む、PCIe、SAS、SATAコンプライアンス・テストの効率化を進めます。PAM4テストを使用して400G製品の開発をスピードアップし、技術の進歩を効率的に検証します。Type-Cデバイスでコンプライアンス・テストに最短で合格します。脅威レーダを正確にシミュレートし、ECMを測定します。強力なDSP技術を活用してスペクトラムの特性評価を行い、重要信号を識別します。低SWaP、高忠実度RFセンサを統合、拡張、配備し、スペクトラムの特性評価を行います。Satcomシステムで使用される複雑な変調技術を低ビット・エラー・レートで確実に提供し、安全かつ信頼性の高い通信を実現します。多くのデプス・センシング・テクノロジでは立体照明または飛行時間(ToF)が使用されます。3Dセンシングのためのレーザ・ダイオード・アレイ・テストの詳細、およびVCSELの大量生産テストのトリガ同期の機能拡張の詳細について説明します。着想から実現までの距離を縮めたい。私たちは、計測器のトップ企業として、さらなる機能と性能を求めて、飽くなき挑戦を続けています。テクトロニクスは、複雑さという障壁を打ち破り、グローバルな技術革新を加速化する画期的なテスト/測定ソリューションを設計し、製造しています。使いやすさと、優れた性能と確度を兼ね備えた製品を開発することで、技術革新の創造と実現に取り組むエンジニアをサポートしています。テクトロニクスのソリューションは、過去70年間に渡って、人類の進歩とさまざまな偉業を支えてきました。