+300°C)オン・ウエハ測定に対応できます。当システムの導入により、非常に高価なプロセスであるパッケージングコストを削減することが可能になります。インピーダンスアナライザや、RFネットワークアナライザ等を組み合わせることにより、オン・ウエハで、等価定数やトランスミッション特性シミュレーション、SパラメータなどのMEMSデバイス特性を自動取得することができます。有機デバイスOFET,OTFT,OEL,OLEDなどの有機半導体デバイスは、大気中の水分や酸素による特性劣化を避けるために、高純度な不活性ガス環境下で測定を行う必要があります。+300°C)測定に対応できます。システムは微小信号測定に対応しており、各種有機半導体デバイスの高精度I-V・C-V測定要求にお応えします。ハイソル株式会社は、キーサイト・テクノロジー株式会社の認定ソリューションパートナーです。+200°C/+300°C)セミオートプローバー制御ソフトウェア操作性に優れた多機能セミオートプロービングソフトウェアです。10に対応しています。ソフトウェアGUIまたはジョイスティックコントローラにより、マニュアルプローバーとしてもご使用いただけます。上位測定器からBIN情報を受け取ることでウェハ面内BINマッピング表示に対応可能です。高低温試験時の、ウエハ熱膨張補正機能を有しています。上位測定器やPCからのGP-IBコマンドによりセミオートプローバーを制御することが可能です。各測定器で取得した測定生データを解析のための、データベース化、パラメータ抽出ソフトウェアを提供することも可能です。(オプション)ソフトウェアは自社開発のため、カスタマイズ要求を組み込むことが可能です。Noiseproその他GP-IB通信対応ソフトウェア※システムの構成により変動します。カタログダウンロード(PDF)ハイソルプローブシステム総合カタログお問い合わせフォームが表示されるまでしばらくお待ち下さい。(プライバシーポリシー)個人情報に関する法令・規範を遵守します。当社はお客様の個人情報への不正アクセス、紛失、破壊、改ざん及び漏洩等の防止に努めます。個人情報は法令に基づき開示される以外は、個人情報をお客様に明示した利用目的の範囲内で取扱い、第三者に譲渡、提供はしません。東京都台東区上野1-17-6。