あると思われるメモリーカード内部を観察し、チップが破損していないかどうかを可視化して、確認を行う必要があります。それにはX線CTシステムよりも、超音波顕微鏡を用いる方が適していますが、その後者を選択するメリットについても考察します。用いてマイクロSDカードの内部を観察。反射画像を確認したところ、白く見える部分は超音波の反射が強いことを示しており、表面からの深さを考慮すると、チップの剥離等による欠陥ではないかと推察されました。