ID:研究者関係も2ちゃんに結構来るんだねー。変なモノは、とどのつまり、怪しいから気をつけて下さい。ID:針がひっかかるんじゃなくて、粒子が針にひっかかるの間違いでした。ID:>>28表面積を測る方法。粉体にガスを吸着させて、次にそのガスを脱離させる。その脱離量を測ることで表面積を測定する。ちなみに使用するガスによって換算係数とかが変わるらしい。半価幅とHall-Williamsonの式を使って結晶子のファクターをキャンセルアウトして求める方法があると聞いたのですが、具体的な方法が記載されている文献、教科書等ご存知の方、ぜひ教えて下さい。ID:どもひさしぶりです。このスレがまだ生きていると思っていませんでした。みなさんありがとうございます。おかげさまで大学を卒業して大学院に行っております。最近、また疑問が出てきたのですが、原子間隔オーダーの面間隔の回折像をX線でみることは可能でしょうか?TEMだと試料つくりに大変手間がかかるらしく、しかも自分の研究室にはTEMはありません。具体的にはInGaP/GaAs基盤でInGaP層のInとGaのオーダリング(自然超格子:Cu-Pt型の超格子)の有無をみたいと思っています。一般的に規則化っつーと、超格子反射(規則反射)が出るんじゃないかな。サテライトピークの形で現れたり。定量的な話もしやすいと思いますよ。ID:私も1さんと同様、めっちゃ久しぶりに書き込みですね。あれから、結晶構造が図で描かれた文献を発見。今までの苦労は・・でもためになりましたけど。うちはTEM命の研究室なんで、>>32みたいな状況になったら「TEM試料さっさと作りなよ」って言われそう。皆さん、TEM命でした。状況がわからないので、自信が無いのですが、まず、1X線回折のできる量の試料が確保できるかどうか。2X線回折で測定できるほど高い規則度になっているかどうか。いう問題がありそうです。X線回折は精度を求めなければ比較的お手軽ですから、やってみて、それから考えるという手もありかもしれませんが。過去にその辺のことをTEMで観察した文献はあるはずですから、その文献を元に、問い合わせてみては如何でしょうか。TEMを用いれば規則度が場所により変化している場合、その変化の様子が解るというメリットがあると思います。大佐さんの過去の質問の状況からして、TEMでの観察は厳しいかもしれませんね。TEMは試料作成だけでなく、観察にもかなりノウハウがありますから、、、。学内にTEM使っている研究室があれば、そこの人に聞いてみるべきでしょうね。ほかの人に振ってしまうレスですみません。ID:初カキコミです。僕は今年B4でX線を用いて研究しています。先の書きこみを見ると先輩方も色々苦労されたみたいですね。参考にさせていただきます。ID:みなさんレスありごうございます。TEMは難しいんですね。結局、構造因子がどうのとかまでわかってないとダメなんですね。(それ専門にしてる研究室があるぐらいなんだから、気軽に測定ってわけにはいかないのかあ...)>TEMを用いれば規則度が場所により変化している場合、その変化の様子が解るというメリットがあると思います。この情報は非常にほしいですね。orderingしている割合はPLからわかるのですが、実際にどういうふうに配列しているのか知りたいので。同試料をTEMで調べた文献はあるので、結果はどうなるかわかっているのですが、自分でも調べてみたかったのです。構造的に本当にorderingがあるということがわかれば、存在の証拠として強いのでデータほしいのです。ID:>そうですか、やっぱりTEMは難しいんですね。結局、構造因子がどうのとかまでわか>ってないとダメなんですね。(それ専門にしてる研究室があるぐらいなんだから、気軽>に測定ってわけにはいかないのかあ...)う~~ん。構造因子はX線回折でも必枢ですけど。いうか,X線回折の方が解析の絡みもあり,詳細に計算しないといけなかったような,,,,。(原子散乱因子の虚部とか)TEMは敷居は高いけど,おもしろいよ。私はB4からM2まで使ったけど,後悔はしてないよ。M1,M2でどんな機械を使いこなすか考えたとき,混晶半導体の研究をするのであれば,TEMは悪い選択ではないと思いますよ。使っている人に相談しましょう☆>orderingしている割合はPLからわかるのですが、ごめん。PLが何か知らないのですが,,,。←無知をさらしている私(:P)>面間隔が1.5Å以下,,,??。ID:ちなみに,↓これは読んだよね。