Gegenfeldfilter für Elektronenbeugung und Elektronenmikroskopie
ZusammenfassungZur Beseitigung der unelastisch gestreuten Elektronen in Elektronenbeugungsdiagrammen und elektronenmikroskopischen Abbildungen wurde die Gegenfeld-methode weiterentwickelt. Das Resultat sind „Netz“- und „Linsen“-Filter hoher Trennschärfe und Bildpunktzahl, mit deren Hilfe der inkohärente Untergrund von Elektronenbeugungsdiagrammen unterdrückt und der Kontrast und das Auflösungsvermögen elektronenmikroskopischer Abbildungen verstärkt werden können.