TEMನಲ್ಲಿನ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸದ ರಚನೆಯು ಹೆಚ್ಚಾಗಿ ಅದನ್ನು ಬಳಸುವ ರೀತಿಯನ್ನು ಅವಲಂಬಿಸಿರುತ್ತದೆ. ಮಸೂರದ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು ಬದಲಾಯಿಸಲು ಅಥವಾ ಮಸೂರವನ್ನು ನಿಷ್ಕ್ರಿಯಗೊಳಿಸಲು ಭಿನ್ನ ಸಾಮರ್ಥ್ಯವನ್ನು ಬಳಸುವ ಸಂಕೀರ್ಣವಾದ ಚಿತ್ರಿಸುವ ವಿಧಾನಗಳು, ಅನೇಕ ನಿರ್ವಹಣೆ ವಿಧಾನಗಳಿಗೆ ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ. ಈ ವಿಧಾನಗಳನ್ನು ಪರೀಕ್ಷಕನ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಆಸಕ್ತಿಯ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಗ್ರಹಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ.

ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾದ ಕ್ಷೇತ್ರ 

TEMನ ಬಳಕೆಯ ಸಾಮಾನ್ಯ ವಿಧಾನವೆಂದರೆ ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾದ ಕ್ಷೇತ್ರದಲ್ಲಿ ಚಿತ್ರಿಸುವ ವಿಧಾನವಾಗಿದೆ. ಈ ವಿಧಾನದಲ್ಲಿ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸದ ರಚನೆಯು ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿನ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ನೇರವಾದ ಹೀರಿಕೊಳ್ಳುವಿಕೆ ಮತ್ತು ಅವಶೋಷಣದಿಂದ ರಚನೆಯಾಗುತ್ತದೆ. ಮಾದರಿಯ ಗಾಢ ಭಾಗವು ಅಥವಾ ಹೆಚ್ಚಿನ ಪರಮಾಣು ಸಂಖ್ಯೆಯನ್ನು ಹೊಂದಿರುವ ಭಾಗವು ಮಸುಕಾಗಿ ಕಾಣಿಸುತ್ತದೆ. ಕಿರಣದ ಪಥದಲ್ಲಿಲ್ಲದ ಮಾದರಿಯ ಭಾಗವು ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾಗಿ ಗೋಚರಿಸುತ್ತದೆ, ಆದ್ದರಿಂದ "ಪ್ರಕಾಶಮಾನವಾದ ಕ್ಷೇತ್ರ" ಪದವನ್ನು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಈ ಪ್ರಭಾವದಲ್ಲಿನ ಚಿತ್ರವನ್ನು ದ್ಯುತಿ ಅಕ್ಷದ ಕೆಳಗಿನ ಮಾದರಿಯ ಸರಳ ಎರಡು ಆಯಾಮದ ಪ್ರಕ್ಷೇಪವೆಂದು ಮತ್ತು ಬೀರ್‌`ಸ್ ನಿಯಮದ ಮ‌ೂಲಕ ನಿರೂಪಿಸಲಾದ ಮೊದಲ ಅಂದಾಜೆಂದು ಭಾವಿಸಲಾಗಿದೆ. ಹೆಚ್ಚು ಸಂಕೀರ್ಣ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಗೆ ಮಾದರಿಯ ರೂಪಿಸುವಿಕೆಯು ಸ್ಥಿತಿಯ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒಳಗೊಳ್ಳುವ ಅವಶ್ಯಕತೆ ಇರುತ್ತದೆ.

ವಿವರ್ತನೆ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸ 
ಮಾದರಿಗಳು ವಿವರ್ತನೆ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ತೋರಿಸಬಹುದು. ಅದರಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಕಿರಣವು ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ವಿಚಲನೆಗೆ ಒಳಗಾಗುತ್ತದೆ. ಇದು ಸ್ಫಟಿಕದಂತಹ ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಹಿಂಬದಿಯ-ನಾಭಿತಲ(ಬ್ಯಾಕ್-ಪೋಕಲ್-ಪ್ಲೇನ್)ದಲ್ಲಿ ಭಿನ್ನವಾದ ಪ್ರದೇಶಕ್ಕೆ ಹರಡುತ್ತದೆ. ಬೆಳಕುಕಿಂಡಿಗಳನ್ನು ಹಿಂಬದಿಯ-ನಾಭಿತಲದಲ್ಲಿ, ಅಂದರೆ ವಸ್ತುವಿನ-ಸಮೀಪದ(ಆಬ್ಜೆಕ್ಟಿವ್) ಬೆಳಕುಕಿಂಡಿಯಲ್ಲಿ, ಇಡುವುದರಿಂದ ಅಪೇಕ್ಷಿತ ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ಪ್ರತಿಬಿಂಬಗಳನ್ನು ಪಡೆಯಬಹುದು(ಅಥವಾ ಹೊರತಾಗಿಸಬಹುದು) ಆದ್ದರಿಂದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಆಯ್ದ ಪ್ರತಿಬಿಂಬಗಳಿಗೆ ಹರಡುವಂತೆ ಮಾಡುವ ಮಾದರಿಯ ಭಾಗಗಳು ಮಾತ್ರ ಚಿತ್ರಿಸುವ ಸಾಧನ ಮೇಲೆ ಪ್ರಕ್ಷೇಪಿಸಲ್ಪಡುತ್ತವೆ.

ಆಯ್ದ ಪ್ರತಿಬಿಂಬಗಳು ಚದುರಿಲ್ಲದ ಕಿರಣವನ್ನು (ಮಸೂರದ ನಾಭಿಕೇಂದ್ರದಲ್ಲಿ ಕಂಡುಬರುವ) ಒಳಗೊಂಡಿಲ್ಲದಿದ್ದರೆ, ಚಿತ್ರವು ಮಸುಕಾಗಿ ಗೋಚರಿಸುತ್ತದೆ.ಆಯ್ದ ಶೃಂಗಕ್ಕೆ ಯಾವುದೇ ಮಾದರಿಯು ಹರಡಿಲ್ಲದಿದ್ದರೆ,ಮಾದರಿಯಿಲ್ಲದ ಅಂತಹ ಪ್ರದೇಶವು ಮಸುಕಾಗಿ ಕಾಣುತ್ತದೆ. ಇದನ್ನು ಮಸುಕಾದ-ಕ್ಷೇತ್ರ ಚಿತ್ರವೆಂದು ಕರೆಯಲಾಗುತ್ತದೆ.

ಆಧುನಿಕ TEMಗಳು ಮಾದರಿ-ಧಾರಕಗಳನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿರುತ್ತವೆ. ಇವು ಬಳಸುವವರಿಗೆ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ವಿವರ್ತನೆ ಸ್ಥಿತಿಗಳನ್ನು ಪಡೆಯಲು, ಮಾದರಿಯನ್ನು ಓರೆಯಾಗಿಸಲು ಅನುವು ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತವೆ ಮತ್ತು ಮಾದರಿಯ ಮೇಲಿರಿಸಿದ ಬೆಳಕುಕಿಂಡಿಗಳು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಆಯ್ಕೆಮಾಡಿಕೊಳ್ಳಲು ಬಳಸುವರರಿಗೆ ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತದೆ. ಇಲ್ಲದಿದ್ದರೆ ಅವು ಮಾದರಿಯನ್ನು ಪ್ರವೇಶಿಸುವ ಬದಲಿಗೆ ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ದಿಕ್ಕಿನಲ್ಲಿ ವಿವರ್ತನೆಯಾಗುತ್ತಿತ್ತು.

ಈ ವಿಧಾನದ ಅನ್ವಯಗಳು ಸ್ಫಟಿಕಗಳಲ್ಲಿ ಜಾಲರಿ ದೋಷ ಕಂಡುಹಿಡಿಯುವುದನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿವೆ. ಮಾದರಿಯ ಅಭಿವಿನ್ಯಾಸಗಳನ್ನು ಜಾಗರೂಕತೆಯಿಂದ ಆರಿಸುವುದರಿಂದ, ದೋಷಗಳ ಸ್ಥಾನವನ್ನು ಮಾತ್ರವಲ್ಲದೆ ದೋಷದ ಪ್ರಕಾರವನ್ನೂ ಕಂಡುಹಿಡಿಯಬಹುದು. ಒಂದು ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಸಮತಲವು ಮಾತ್ರ ಪ್ರಬಲ ವಿವರ್ತನೆಯ ಕೋನದಿಂದ ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ಕೋನ) ಸ್ವಲ್ಪ ಓರೆಯಾಗುವಂತೆ ಮಾದರಿಯನ್ನು ತಿರುಗಿಸಿದರೆ, ಸಮತಲವನ್ನು ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ಕೋನಕ್ಕೆ ಓರೆಯಾಗಿಸುವ ಸ್ಫಟಿಕದ ಸಮತಲದ ಯಾವುದೇ ವಿರೂಪವು ನಿರ್ದಿಷ್ಟವಾಗಿ ಪ್ರಬಲ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸ ಭಿನ್ನತೆಗಳನ್ನು ಉಂಟುಮಾಡುತ್ತದೆ. ಸ್ಫಟಿಕವನ್ನು ಬ್ರ್ಯಾಗ್ ಕೋನಕ್ಕೆ ಓರೆಯಾಗಿಸದ, ಪರಮಾಣುಗಳ ಸ್ಥಾನಪಲ್ಲಟನವನ್ನು (ಅಂದರೆ ಸ್ಫಟಿಕದ ಸಮತಲಕ್ಕೆ ಸಮಾಂತರವಾಗಿರುವ ಸ್ಥಾನಪಲ್ಲಟನ) ಮಾತ್ರ ಉಂಟುಮಾಡುವ ದೋಷಗಳು ಪ್ರಬಲ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ಸೃಷ್ಟಿಸುವುದಿಲ್ಲ.

ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ಶಕ್ತಿ ಕಳೆದುಕೊಳ್ಳುವಿಕೆ (ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ನ ಎನರ್ಜಿ ಲಾಸ್) 

EELSನ ಮುಂದುವರಿದ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನವನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು TEMಗಳಿಗೆ ಸರಿಯಾಗಿ ಸಜ್ಜುಗೊಳಿಸಿದ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳನ್ನು ಅವುಗಳ ವೋಲ್ಟೇಜ್‌ನ ಆಧಾರದಲ್ಲಿ ನಿರಾಕರಿಸಬಹುದು(ಏಕೆಂದರೆ ಸ್ಥಿರ ವಿದ್ಯುತ್‌ಪೂರಣ ಅವುಗಳ ಶಕ್ತಿಯಾಗಿರುತ್ತದೆ) EELS ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೊಮೀಟರ್‌ಗಳೆನ್ನುವ ಕಾಂತೀಯ ವಲಯ-ಆಧಾರಿತ ಸಾಧನಗಳನ್ನು ಬಳಸಿಕೊಂಡು ಹೀಗೆ ಮಾಡಬಹುದು. ನಿರ್ದಿಷ್ಟ ಶಕ್ತಿಯ ಮೌಲ್ಯಗಳನ್ನು ಆರಿಸಲು ಈ ಸಾಧನಗಳು ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತವೆ. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಮಾದರಿಯೊಂದಿಗೆ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆ ನಡೆಸುವ ವಿಧಾನದೊಂದಿಗೆ ಇದು ಸಂಬಂಧಿಸಿದೆ. ಉದಾಹರಣೆಗಾಗಿ, ಮಾದರಿಯಲ್ಲಿನ ವಿವಿಧ ಅಂಶಗಳು ಕಿರಣದಲ್ಲಿ ವಿವಿಧ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಶಕ್ತಿಗಳನ್ನು ನೀಡುತ್ತವೆ. ಇದು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ವರ್ಣ ವಿಪಥನವನ್ನು ಉಂಟುಮಾಡುತ್ತದೆ. ಆದರೆ ಈ ಪರಿಣಾಮವು, ಉದಾಹರಣೆಗೆ,ಮೂಲಾಂಶಗಳ ಸಂಯೋಜನೆಯ ಬಗ್ಗೆ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒದಗಿಸುವ ಚಿತ್ರವನ್ನು ರಚಿಸಲು ಬಳಸಬಹುದು. ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ -ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಯ ಸಂದರ್ಭದ ಪರಮಾಣುವಿನ ಬದಲಾವಣೆಯನ್ನು ಇದು ಆಧರಿಸಿದೆ.

EELS ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರೊಮೀಟರ್‌ಗಳನ್ನು ರೋಹಿತ ದರ್ಶಕದ ಮತ್ತು ಚಿತ್ರಿಸುವ ವಿಧಾನಗಳರೆಡರಲ್ಲೂ ನಿರ್ವಹಿಸಬಹುದು. ಇವು ಸ್ಥಿತಿ ಸ್ಥಾಪಕ ರೀತಿಯಲ್ಲಿ ಹರಡಿದ ಕಿರಣಗಳ ಪ್ರತ್ಯೇಕತೆ ಅಥವಾ ವಿಸರ್ಜನೆಗೆ ಅವಕಾಶ ಮಾಡಿಕೊಡುತ್ತವೆ. ಹೆಚ್ಚಿನ ಚಿತ್ರಗಳಲ್ಲಿ ಸ್ಥಿತಿ ಸ್ಥಾಪಕವಲ್ಲದ ಹರಡುವಿಕೆಯು ಪರೀಕ್ಷಕನ ಆಸಕ್ತಿಯಿಲ್ಲದ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಒಳಗೊಂಡಿರುತ್ತದೆ.ಇದರಿಂದಾಗಿ ವೀಕ್ಷಿಸಬಹುದಾದ ಆಸಕ್ತಿಯ ಸಂಕೇತಗಳನ್ನು ಕಡಿಮೆಮಾಡುತ್ತದೆ. ವೀಕ್ಷಿಸುವ ಚಿತ್ರಗಳಲ್ಲಿ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸವನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸಲು EELS ಇಮೇಜಿಂಗ್ ಬಳಸಬಹುದು.ಅನಗತ್ಯ ಭಾಗಗಳನ್ನು ನಿರಾಕರಿಸುವ ಮೂಲಕ ಪ್ರಕಾಶಮಾನ ಕ್ಷೇತ್ರ ಮತ್ತು ವಿವರ್ತನೆ ಇದರಲ್ಲಿ ಸೇರಿವೆ.

ಸ್ಥಿತಿಯ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸ 
ಸ್ಫಟಿಕ ರಚನೆಯನ್ನು ಸ್ಥಿತಿಯ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸವೆಂದೂ ಕರೆಯುವ ಹೆಚ್ಚು ಪೃಥಕ್ಕರಣ ಸಾಮರ್ಥ್ಯದ ಟ್ರಾನ್ಸ್‌ಮಿಶನ್ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಮೈಕ್ರೋಸ್ಕೋಪಿಯಿಂದ (HRTEM) ಪರೀಕ್ಷಿಸಬಹುದು. ಸಮಾನ ದಪ್ಪದ ಕ್ಷೇತ್ರ ಉತ್ಸರ್ಜನೆಯ ಮ‌ೂಲವನ್ನು ಬಳಸುವಾಗ, ಮಾದರಿಯ ಅಂತರ್‌ಕ್ರಿಯೆಯಿಂದ ಉಂಟಾಗುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ತರಂಗಗಳ ಸ್ಥಿತಿಯ ವ್ಯತ್ಯಾಸದಿಂದಾಗಿ ಚಿತ್ರಗಳು ರೂಪುಗೊಳ್ಳುತ್ತವೆ. ಚಿತ್ರದ ರಚನೆಯನ್ನು ಒಳಬರುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಕಿರಣಗಳ ಸಂಕೀರ್ಣ ಮಾಡ್ಯುಲಸ್‌ನಿಂದ ನೀಡಲಾಗುತ್ತದೆ. ಚಿತ್ರವು ಪರದೆಯನ್ನು ತಲುಪುವ ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ಗಳ ಸಂಖ್ಯೆಯನ್ನು ಅವಲಂಬಿಸಿರುವುದು ಮಾತ್ರವಲ್ಲದೆ, ಸ್ಥಿತಿ ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸ ಚಿತ್ರಗಳ ನೇರವಾದ ಅರ್ಥವಿವರಣೆಯನ್ನು ಹೆಚ್ಚು ಸಂಕೀರ್ಣವಾಗಿಸುತ್ತದೆ. ಈ ಪರಿಣಾಮವನ್ನು ಅನುಕೂಲಕ್ಕೆ ಬಳಸಿಕೊಳ್ಳಬಹುದು. ಉದಾಹರಣೆಗೆ, ಸಂಕೀರ್ಣ ಸ್ಥಿತಿಯ ಪುನಃಪ್ರಾಪ್ತಿಯ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನಗಳಲ್ಲಿ ಮಾದರಿಯ ಬಗ್ಗೆ ಹೆಚ್ಚಿನ ಮಾಹಿತಿ ಪಡೆಯಲು ಇದನ್ನು ಉಪಯೋಗಿಸಬಹುದು.

ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನ್‌ ಗನ್
ಛಾಯಾವ್ಯತ್ಯಾಸದ ರಚನೆ
ಮಸೂರಗಳು
ಹಿನ್ನೆಲೆ