ഉയർന്ന ദൃശ്യസൂക്ഷ്മത നല്കുന്ന ഈ മൈക്രോസ്കോപ്പിന്റെ വികാസമാണ് നാനോ സാങ്കേതികവിദ്യയുടെ ദ്രുതഗതിയിലുള്ള വളർച്ചയ്ക്കു വഴിയൊരുക്കിയത്. ഒരു വശത്തേക്ക് നീണ്ടുനിൽക്കുന്ന ദണ്ഡിന്റെ (കാന്റിലിവർ) അറ്റത്ത് അനുഭവപ്പെടുന്ന പ്രതല അറ്റോമിക് ബല വിന്യാസമാണ് അതിസൂക്ഷ്മ ചിത്രം രേഖപ്പെടുത്തലിന് ഉപയോഗിക്കുന്നത്. കാന്റിലിവറിന്റെ ഒരറ്റത്ത് കൂർത്ത അഗ്രം പിടിപ്പിച്ചിരിക്കും. ഇതാണ് പരീക്ഷണ വസ്തുവിൽ പറ്റിച്ചേർന്ന് വിവരം ശേഖരിക്കാൻ സഹായിക്കുന്നത്. ചലിച്ചു തുടങ്ങുമ്പോൾ ആറ്റമിക് സ്വഭാവത്തിനനുസരിച്ച് നേരിയ തള്ളൽ/ബലം പ്രോബിൽ അനുഭവപ്പെടും. ലേസർ ബീമിന്റെയും മറ്റും സഹായത്താൽ ഓരോ ആറ്റത്തിന്റെയും വിശദാംശങ്ങൾ രേഖപ്പെടുത്തുന്നു. 1986-ലാണ് എ.എഫ്.എം. കണ്ടെത്തിയത്.

ഗവേഷണം
ആറ്റമിക ഫോഴ്സ് മൈക്രോസ്കോപ്
സ്കാനിങ്ങ് ടണലിങ് മൈക്രോസ്കോപ്
നേട്ടങ്ങൾ