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Information signalée par Manuel Durand-Barthez (URFIST de Paris)"La onzième session de l’Atelier Bibliométrie, "Evaluation et caractérisation des publications scientifiques" de l’URFIST de Paris accueillera Ton F.J. van Raan, Professor of Quantitative Studies of Science, Centre for Science and Technology Studies (CWTS), Leiden University (Leyde, Pays-Bas)Concepteur du classement de Leiden, il exposera les principes de ce nouveau cadre alternatif vis-à-vis des systèmes en vigueur, innovant en particulier en ce qu'il prend en compte les spécificités de chaque discipline et utilise les algorithmes de distribution qui font défaut dans des systèmes classiques fondés sur un usage brut et peu réfléchi des principes de Garfield. Il met en avant les performances d’établissements dont la popularité n’est pas habituellement patente".Il exposera ses arguments dans cette prochaine séance l'atelier au CNAM à Paris, le vendredi 23 mars de 9h30 à 12h, 292 rue Saint Martin, accès 17, salle 17.2.15.Inscription gratuite mais obligatoire à la page suivante.