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| Microscopy
La Technique d'Imagerie Neuve de Rayon X Améliorée par le Visionnement 3D Avance le Nano, Recherche de Photon
Published on August 16, 2012 at 3:32 AM
Par Volonté Soutter Les Scientifiques de la Source et du Centre Avancés du Photon de Laboratoire National d'Argonne pour des Matériaux de Nanoscale ont développé une technique d'imagerie neuve de Rayon X qui comporte la visualisation 3D d'une surface du matériau sans endommager l'échantillon à l'étude. La technique d'imagerie novatrice augmente l'étendue de la recherche de rayon X de la nanotechnologie et de la biologie et est une combinaison des avantages des caractéristiques de haute résolution de la représentation logique de diffraction de Rayon X (CDI) sans la lentille et la visualisation 3D extérieure facilitées par la dispersion de la géométrie de frôler-incident. Les interactions atomiques qui déterminent les caractéristiques et l'efficacité d'un produit semiconducteur basé auto-assemblé de nanostructure ou de nanotechnologie se produisent en grande partie à ou en dessous de la surface du matériau. Dans le passé, les scientifiques ont dû dépendre des modèles simulés pour déterminer la structure et l'épaisseur extérieures, où la confiance complète dans l'intégrité d'une telle mesure manquait. Les scientifiques chez Argonne ont activé le visionnement 3D de la surface utilisant la technique neuve en manipulant la cornière à laquelle les Rayons X dispersent hors du matériau témoin. Utilisant la géométrie de frôler-incident au lieu de la géométrie conventionnelle de boîte de vitesses d'AMÉLIORATION DE LA DÉFENSE CLASSIQUE, la configuration de dispersion a été employée pour produire d'une image en trois dimensions sans recourir à la modélisation. Cependant les techniques d'imagerie traditionnelles de Rayon X sont capables de produire les images 3D, la définition de l'image est mauvaise et l'intensité des Rayons X peut endommager les échantillons. Puisque la technique neuve exige de juste un rayon X court de former l'image, elle lui effectue une technique désirable et non destructive pour l'analyse des échantillons biologiques. Un Autre avantage principal de la technique neuve est que l'étendue de la représentation utilisant l'AMÉLIORATION DE LA DÉFENSE CLASSIQUE peut être grimpée du nanoscale jusqu'à l'échelle de mm si le Rayon X est incident à une cornière jetante un coup d'oeil sur l'échantillon. Cette seule technique permet à des chercheurs d'étendre le comportement à atomique ou le niveau moléculaire au comportement au niveau de dispositif. Source : http://www.anl.gov/