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| Microscopy | Nanooptics and Nanophotonics
La Technique Hybride de la Métrologie du NIST Peut Réduire des Incertitudes dans la Mesure des Caractéristiques techniques de Puce pour Ordinateurs
Published on September 7, 2012 at 6:43 AM
Par Volonté Soutter Le National Institute of Standards and Technology (NIST) a conçu une technique hybride de métrologie qui pourrait réduire les incertitudes liées à la mesure des caractéristiques techniques sur la puce pour ordinateurs. La technique hybride de métrologie est une combinaison des techniques d'analyse statistique et d'exploration. Ce pilier minuscule de silicium, mesurant moins de 100 nanomètres le long de n'importe lequel de ses côtés, est le tri de la caractéristique technique de puce pour ordinateurs que les constructeurs maintenant peuvent mesurer plus avec précision avec la méthode hybride de la métrologie du NIST, qui peut réduire les incertitudes harcelantes qui ont longtemps infesté les efforts de la mesure de l'industrie. Crédit : NIST Le procédé de la fabrication une puce pour ordinateurs concerne beaucoup d'incertitude, particulièrement tout en traitant la mesure des caractéristiques techniques de taille d'un nanomètre. Les microscopes Optiques ne peuvent pas effectivement analyser ces petites caractéristiques techniques. Les Métrologistes emploient généralement d'autres méthodes telles que la microscopie atomique de force (AFM) et scatterometry pour étudier ces caractéristiques techniques. Dans scatterometry, la lumière dispersée à partir des arêtes de la puce pour ordinateurs produit une configuration dont des propriétés de caractéristique technique peuvent être déduites. Dans les cas où scatterometry n'est pas pertinent, les métrologistes utilisent l'AFM, un procédé lent et cher par lesquels la largeur et hauteur d'un objectif de taille d'une nano peut être mesurée. Richard Argentent, un scientifique au NIST, a dit que si la largeur d'un objectif est prévue pour être 40 nanomètre utilisant scatterometry, la largeur réelle varierait plus ou moins par 3 nanomètre. Il se sent que ce degré de liberté est relativement grand, et d'ailleurs, les incertitudes pourraient augmenter quand d'autres techniques de la mesure sont combinées, menant à peu de clarté. Il a également dit que GLOBALFOUNDRIES et IBM ont commencé à utiliser la technique hybride de métrologie, après qu'elle ait été introduite par une conférence en 2009, et ont été réussis. Les Scientifiques du NIST ont essayé de travailler à concevoir une technique qui était plus précise et économique. Les mesures obtenues à partir de l'AFM et des méthodes scatterometry étaient avec des données simulées enregistrées dans une bibliothèque. Cependant, ceci a aussi eu un haut niveau de l'incertitude. Le Ventilateur Zhang, un statisticien de Nien avec le NIST, analyse Bayésienne utilisée et comporté quelques valeurs plus mesurées à la bibliothèque précédente modélisent. Incertitudes réduites de Cet élan largement dans quelques cas. Source : http://www.nist.gov/index.html