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| Scanning Probe Microscopes (SPM) | Atomic Force Microscopes (AFM)
Microscope Atomique de Force d'AIST-NT SmartSPM 1000
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Le 100% a automatisé le système de SmartSPM qui offre sa technologie tranchante des mesures ultra-rapides, métrologiques et de haute résolution pour la recherche des matériaux les plus avancés à l'échelle nanoe en tous les modes d'AFM et de STM. Automatisation Avec le SmartSPM le cadrage robotisé de laser-à-extrémité de claquement-sur-un-bouton règle des chercheurs libres de cette opération courante. Cette caractéristique technique fournit également un haut niveau de la reproductibilité de réglage de système qui ne dépend pas de l'expérience de la téléphoniste. Mais c'est juste le début de toute la fonction intégrée d'automatisation dans le SmartSPM ! En mode automatique la téléphoniste devrait seulement spécifier les paramètres principaux de sonde et la zone priée d'échographie pour laisser le SmartSPM exécuter le plein réglage de système, engager dans la sonde la surface témoin et commencer à balayer. La période de apprentissage minimale ainsi que le début très rapide des mesures (moins de 5 mn !) effectue au SmartSPM une solution parfaite pour toutes les installations multi-utilisatrices. Testez votre encorbellement avant des mesures en marche Seulement avec le SmartSPM il est devenu possible de tester la couche réfléchie du postérieur de l'encorbellement avant de commencer toutes les mesures en traçant la distribution de l'amplitude de la vibration de l'encorbellement. De plus, après que le mappage soit fait, la téléphoniste peut manuellement choisir les la plupart position appropriée de la tache laser sur l'encorbellement basé sur ses conditions particulières de mesure. Trouvez Rapidement la bonne place sur votre échantillon La combinaison de l'échantillon motorisé positionnant dans le plan horizontal et le bloc optique de haute résolution de haut-vue permet à des chercheurs de trouver facilement la surface où la lecture supplémentaire doit être faite. Cette combinaison est également actionnée par la saisie visuelle étalonnée de logiciel, ainsi l'utilisateur peut recenser des emplacements intéressants sur la surface témoin et déménager l'encorbellement là en cliquant sur sur l'image vidéo sur l'écran d'ordinateur. Pendant ce procédé il n'y a les lumières pas irritantes de clignotement. L'image optique demeure absolument claire, parce que le laser d'AFM est 1300 le nanomètre IR. Brisez les limites de logiciel Pour des utilisateurs avancés le langage de script inclus (Lua) et le macro-langage de programmation de PROTOCOLE DE SYSTÈME D'ANNUAIRE sont disponibles. Ils permettent à l'utilisateur facilement de personnaliser et automatiser leur expérience de SPM en étendant le logiciel de SmartSPM avec des extensions de programme personnalisé dans des catégories telles que la lecture, les courbures de force, le nanolithography, l'examen critique élevé de débit (HTS) et plus. Définition. Stabilité. Exactitude En Raison de la combinaison du système d'inscription à faible bruit, du seul balayeur, de l'électronique avancée et des procédures intelligentes de lecture qui comportent sur 100 ans d'une expérience combinée de recherches de SPM, avec les utilisateurs de SmartSPM d'AIST-NT peut exécuter les seules mesures qui sont extrêmement difficiles, si possible du tout, pour d'autres instruments de SPM. Les supplémentaire-sûrs et jeûnent en même temps procédure d'engagement d'extrémité-échantillon permettent pour protéger même des extrémités fragiles très tranchantes contre n'importe quels dégâts possibles. En Raison de la disponibilité du véritable mode de lecture de non contact un peut mesurer même les échantillons les plus fragiles et mécaniquement les plus sensibles. Les seules procédures intelligentes de lecture permettent à l'utilisateur d'obtenir des images de haute qualité sur les objectifs très provocants comme 120 nanoparticles de nanomètre AG, ADN ou structures lamellaires de polymère. En Raison de la construction très bien conçue et prévue de l'AFM et du balayeur, seulement l'instrument d'AIST-NT comporte une telle stabilité mécanique en suspens, qui permet à l'utilisateur de n'obtenir des images atomiques de définition avec le même balayeur de 100 microns et en même temps aux images de haute qualité de produit sans aucune table d'isolement de vibration. C'est d'importance extrême pour l'intégration de l'AFM avec les installations optiques sur une table optique.
AIST-NT CombiScope 1000 Scanning Probe Microscope
AIST-NT OmegaScope 1000 Scanning Probe Microscope
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