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| Nanoelectronics | Microscopy | Nanolithography | Atomic Force Microscopes
Asile Collaboration formulaire de recherche pour développer un nouveau AFM dynamique Cantilever Techniques
Published on July 3, 2007 at 11:17 AM
Asylum Research , le premier fabricant de microscopes à force atomique (AFM), a annoncé sa collaboration avec le laboratoire du professeur Ricardo Garcia de l'Institut de Microélectronique de Madrid pour développer de nouvelles techniques dans le domaine de la dynamique AFM, en se concentrant sur ​​la fréquence harmonique et multiple plus élevé modes de mesure. La collaboration implique l'asile de propriété intellectuelle de licence de recherche du Conseil espagnol pour la recherche scientifique (CSIC) et le développement en commun de techniques d'imagerie avancées qui permettent la caractérisation nouvelle surface d'une variété de matériaux. «La recherche qui sortent du laboratoire de Garcia sur la dynamique cantilever est inégalée», a déclaré le Dr Roger Proksch, président et co-fondateur de l'Asile de la recherche. "Son travail récent s'inscrit parfaitement dans les développements que nous poursuivons avec Dual Mode ™ AC où nous avons vu des résultats extrêmement intéressants en utilisant des modes de résonance élevée en porte à faux. Combinant nos efforts mèneront à des progrès rapides dans la caractérisation de surface AFM en utilisant ce mode d'imagerie nouvelle et puissante. " Professeur Ricardo Garcia, chef du laboratoire de nanolithographie et la sonde à balayage de l'Institut de Microélectronique de Madrid a commenté, «Nous croyons fermement que les techniques d'imagerie multiples fréquences fournira la prochaine vague de caractérisation des matériaux de l'AFM. Il est logique pour nous d'unir nos efforts formellement avec Asylum Research parce que nos développements conceptuels peuvent être facilement mises en œuvre dans leurs innovantes MFP-3D ™ AFM. Nous sommes confiants que nos efforts conjoints profiteront à tous les chercheurs de l'AFM et conduire à des découvertes les plus rapides et la diffusion de la technique. " techniques d'imagerie ultiples fréquences ont été un pionnier dans le laboratoire de Garcia et avec la recherche d'asile MFP-3D en utilisant l'AFM en instance de brevet Dual Mode alternatif. En double AC, le cantilever est entraîné à deux ou plusieurs fréquences. Le mouvement cantilever est ensuite analysé par le MFP-3D avancés contrôleur numérique. L'amplitude, phase et d'autres paramètres mécaniques peuvent être affichées, enregistrées, combinées avec d'autres signaux, et utilisé dans les boucles de rétroaction sélectionné par l'utilisateur. En comparaison avec les données en mode normal ca, ca double des données montre un contraste accru sur une plus large gamme de paramètres d'imagerie et fournit des informations sur la fréquence dépend des propriétés mécaniques d'une surface. Test Alpha de l'AC logiciels Dual a été très productive avec les publications soumises à des revues de premier plan par différents chercheurs. La version bêta se produira le 15 avec une version attendue Juin cause plus tard dans l'été. Download PDF CopyView Supplier Profile