{"word_count": 305, "character_count": 2086}
 Critique et architecture. Un état des lieux contemporain est le dernier ouvrage dirigé par Hélène Jannière, directrice de l'EA Histoire et critique des arts.Paru en Octobre 2019 il est édité par les Éditions de la Villette. PrésentationRefusant a priori toute définition normative de la critique architecturale, cet essai propose de parcourir certains moments clés de ses reconfigurations au cours du XXe siècle, de ses crises successives, de la remise en question de ses instruments, de ses critères, de son périmètre, de ses relations frontalières avec d’autres types de discours sur l’architecture.Il s’agit notamment des débats des années 1930 sur les différences irréductibles entre critique d’art et critique d’architecture, de ceux du second après-guerre sur les rôles respectifs de l’histoire, de la théorie et de la critique dans l’enseignement de l’architecture aux États-Unis, ou, dans les années 1960, des discussions sur la possibilité d’une théorie « scientifique » pour l’architecture et sur le rôle de la linguistique dans la critique architecturale.Après un état des lieux des positions et des controverses relatives à la critique, marquées par des figures comme Reyner Banham, Michel Ragon, Peter Collins ou Manfredo Tafuri, la deuxième partie de l’ouvrage revient sur sa double origine, dans la théorie de l’architecture et de l’art. La critique architecturale n’est-elle qu’une des formes de la critique, comparable à celle des arts visuels ou de la musique ? Au fil du XXe siècle, dans quelles conditions a-t-elle pu être considérée comme un discours interne au domaine de l’architecture, entendue comme discipline autonome ? Et, au-delà, de quelle puissance critique l’acte architectural lui-même a-t-il pu être investi ? InformationsDate de parution : 31 octobre 2019Titre : Critique et architecture. Un état des lieux contemporainAuteur : Hélène JannièreEdition : Éditions de la Villette, ParisCollection: Penser l’espace160 p.Dimensions: 210 x 150 mmISBN: 978-2-37556-020-4La présentation complète de l'ouvrage est disponible ICI