text: Fourier Infrarot Spektroskopie (FT-IR)
  Die wesentlichen Komponenten eines FT-IR Spektrometers sind ein Michelson-Interferometer, eine breitbandige Lichtquelle und ein entsprechender Detektor. Das Durchstimmen eines Interferometerarmes ermöglicht die Aufnahme eines Interferogramms mittels des Detektors. Dieses Interferogramm wird im Wesentlichen Fourier-transformiert und liefert dann ein Spektrum, das für die sich im Strahlengang befindende Probe charakteristisch ist. Transmissions- bzw.
  Hochgeschwindigkeitskamera
  · Typ: Redlake MotionPro X3 · Sensor: CMOS 1280*1024 · 1040 Bilder pro Sekunde in Vollauflösung · 64000 Bilder pro Sekunde in Teilauflösung · Schnittstelle: Gigabit-Ethernet.
  Kraftmikroskopie (AFM)
  Abrasterung von Oberflächen nach dem Prinzip der Kraftmikroskopie.
  Laser-Kalorimeter
  Mit dem Laserkalorimeter werden Absorptionswerte optischer Komponenten nach der Norm DIN EN ISO 11551:2003 bestimmt. Die zu untersuchende Probe wird etwa 100 Sekunden lang (Dauer variiert mit Probeneigenschaften) mit einem Laser bestrahlt, und aufgrund der Absorption der Laserstrahlung erwärmt. Zur Verringerung thermischer Störungen befindet sich die Probe in einer Isolierkammer.
  Profilometer (Weißlichtinterferometer)
  · Typ: Veeco NT9100, VSI (Vertical Scanning Interferometry) und PSI (Phase Shifting Interferometry) · Objektive: 2.5X, 10X und 50X, automatisierter Objektivrevolver · "Stitching" für Vermessung großer, zusammenhängender Flächen in x,y-Richtung · Verfahrweg: z: 100 mm, x,y: 150 mm · Scan-Bereich z: 0.1 nm bis 10 mm.