text: Mit Hilfe eines Elektronenstrahlteilers basierend auf einem Kohlenstoffnanoröhrchen haben wir Interferenzstreifen von elektronischen Materiewellen aufgenommen (s. Abb.). Die räumliche Ausdehnung der Interferenzstreifen ist ein direktes Maß für die Kohärenz eines Elektronenstrahls. Wie klar zu erkennen ist, sehen sich die beiden Interferenzbilder sehr ähnlich, womit die Kohärenz der ihnen zugrunde liegenden Elektronenstrahlen etwa gleich groß ist. Das linke Bild zeigt die Interferenz von Elektronen, die von einer scharfen Spitze mit Hilfe eines Lasers emittiert wurden, das rechte die von feldemittierten Elektronen. Lange schon ist bekannt, dass feldemittierte Elektronenstrahlen die höchste Kohärenz aller Standardelektronenquellen besitzen, weswegen diese Strahlen auch in höchstauflösenden Elektronenmikroskopen verwendet werden (in Elektronenkanonen mit sog. kalten Feldemittern). Die große Kohärenz der Laser-getriebenen Elektronenemission ist für zukünftige Anwendungen in der zeitaufgelösten Elektronenbildgebung von hoher Bedeutung. Das Manuskript, das diese schönen Ergebnisse beschreibt, ist gerade bei Physical Review Letters zur Veröffentlichung angenommen worden. Erwähnenswerter Weise resultieren diese Ergebnisse hauptsächlich aus der Masterarbeit von Dominik Ehberger und einer fruchtbaren Zusammenarbeit mit unseren Partnern an der LMU München, mit deren Hilfe wir die Kohlenstoff-Nanoröhrchen über Mikromerer große Löcher haben wachsen lassen können. Jakob Hammers speziell ausgerüstete Vakuumkammer und seine Hilfe waren die dritte wichtige Zutat.
  Feldverstärkung an scharfen Spitzen — ein altes Thema, jetzt endlich verstanden? Publikation dazu bei NJP angenommen.
  Jeder kennt den Blitzableitereffekt. Ähnlich wie bei diesem werden an scharfen Spitzen auch optische Felder verstärkt. Diese optische Feldverstärkung an scharfen Spitzen wird vielfältig genutzt, so zum Beispiel in optischen Rasternahfeldmikroskopen, aber auch in der Spitzen-verstärkten Ramanspektroskopie. In unserem Labor verwenden wir die Feldverstärkung an scharfen Objekten, um einfach optische Feldstärken zu erzeugen, die so groß sind, dass Elektronenemissionsprozesse im Starkfeldregime stattfinden. In der jetzt bei New Journal of Physics angenommenen Veröffentlichung zeigen wir gemeinsam mit unseren langjährigen Kollaborationspartner der TU Wien, dass die optische Feldverstärkung nicht nur vom Spitzenradius abhängt (und mit abnehmenden Sptizenradius ansteigt, wie erwartet und schon lange bekannt), sondern dass der Öffnungswinkel der Spitzen einen ähnlich großen Effekt hat, was überraschend ist. Dies war bisher kaum bis gar nicht gut verstanden; wir haben daher nicht nur numerische Simulationen angestellt, sondern haben auch ein einfaches intuitives Modell entwickelt, warum ein relativ großer Öffnungswinkel zur maximalen Feldverstärkung führt, s. Abb. Dieses Verhalten zeigt sich für viel Materialien.
  Diese Frage ist in den letzten Jahren zum zentralen Forschungsthema vieler Gruppen weltweit geworden ist. Erstmals lassen es nämlich moderne Verfahren der Femto- und Attosekundenphysik zu, elektronische Prozesse in kleinsten Festkörpern auf ihren natürlichen Zeitskalen zu untersuchen. Die Einblicke, die diese Grundlagenforschung liefert, sind relevant für vielfältige Anwendungen, so z.B. im Bereich der Licht-gesteuerten Elektronik. Die beiden Physikprofessoren Matthias Kling von der Uni München und Peter Hommelhoff von der Uni Erlangen haben ein erstes Buch zu diesem Thema herausgegeben, das einen Überblick über den derzeitigen Stand dieses spannenden Forschungsgebiets gibt. In zehn Kapiteln, jedes von auf ihrem Arbeitsgebiet führenden Autoren verfasst, wird der Stand der Dinge wiedergegeben. Das Buch eignet sich sowohl für Masterstudenten und junge Doktoranden, um in einen Überblick über das Gebiet zu bekommen, als auch als Nachschlagewerk für erfahrenere Wissenschaftler.
  Eine ultraschnelle miniaturisierte Röhrendiode: Veröffentlichung bei Applied Physics Letters angenommen — und auch schon veröffentlicht