text: Kristalline Oberflächenstruktur. Lexikon Pharmatechnologie - prozesstechnik online
  Siehe auch: Morphologie.
  Austenitische Edelstahllegierungen verfügen über einen kristallinen Gitteraufbau (Metallgitter), wobei die Kristalle (kubisch-flächenzentriert oder kubisch-raumzentriert) wiederum Körner (Korn) bilden, die aus einer Vielzahl von Kristallen bestehen und durch Korngrenzen im Gefüge berandet werden.
  Dieses Gitterstrukturbild gilt nicht nur im Inneren des Bauteils, sondern prinzipiell auch für die (medienberührte) Oberfläche des Edelstahlbauteils, wobei die sich ausbildende chromoxidreiche Passivschicht eine amorphe Struktur hat und eine Dicke von ca. 1–3 nm aufweist und deshalb die mikroskopische Zugänglichkeit der Gitterstrukturerkennung grundsätzlich nicht behindert.
  Während die Kristalle eine Größe von ca. 0,3 nm aufweisen, zeigen die Körner Größen von 5–50 µm und sind insofern bei mikroskopischer Vergrößerung von 100-200 x im Lichtmikroskop prinzipiell eindeutig wahrzunehmen, wobei speziell bei austenitischen Edelstahllegierungen auch die typischen Zwillingsbildungen deutlich erkennbar sind.
  Die mikroskopische Prüfung von verschieden bearbeiteten Edelstahloberflächen zeigt nun, dass speziell mechanisch bearbeitete (etwa geschliffene (Schleifen) oder gehonte (Honen)) Edelstahloberflächen i. Allg. keine Kristallstrukturen, sondern amorph verschmierte Oberflächenstrukturen (typische Beilby-Schicht) zeigen, während v. a. elektrochemisch polierte Oberflächen die reine, kristalline Struktur der Edelstahloberfläche erkennen lassen, wobei eigentlich die Kornflächen wahrgenommen werden können, da die jeweils benachbarten Kornflächen aufgrund der unterschiedlichen Kristallwachstumsorientierung im Blickfeld variieren. Die Grenzen zwischen den Körnern sind die Korngrenzen.
  Diese Prüfung auf mikroskopische Erkennung der kristallinen Kornstrukturen ist eine erweiterte Prüfspezifikation für ordnungsgemäß elektropolierte Edelstahloberflächen.
  Die exakte Erkennung von Körnern und Korngrenzen ermöglichen z. B. Aufnahmen mit dem Rasterelektronenmikroskop mit V = 2.500–3.500 x.
  Abb. K 16: Topographie bzw. wahre Topographie – mikroskopisch. Werkstoff 1.4404, mechanisch geschliffen: amorphe, verschmierte Struktur. Kristallstrukturen sind nicht zu erkennen. V = 650 x. (Quelle: G. Henkel)
  Abb. K 17: Topographie bzw. wahre Topographie – mikroskopisch. Werkstoff 1.4404, elektrochemisch poliert: reine kristalline Struktur erkennbar. V = 3.500 x. (Quelle: G. Henkel)