Negatiivse mikrolainete murdumisnäitajaga metamaterjali  avastamine ja arendamine: Victor Veselago, John Pendry, David Smith, Xiang Zhang, Sheldon Schultz, Ulf Leonhardt. Siit loodetakse leida eelkõige kasutusvõimalusi mikroskoopide läätsede juures. 8,8 protsenti häältest.