Lihat bagian di bawah ini dan kemudian jawab pertanyaan setelahnya dalam bahasa yang sama dengan bagian: Passage: Atomic force microscopy (AFM) atau scanning force microscopy (SFM) adalah jenis mikroskop probe pemindaian (SPM) dengan resolusi sangat tinggi, dengan resolusi yang ditunjukkan pada urutan pecahan nanometer, lebih dari 1000 kali lebih baik dari batas difraksi optik. Pertanyaan: Apa itu AFM?
jenis mikroskop probe pemindaian dengan resolusi sangat tinggi