AFM terdiri dari kantilever dengan ujung yang tajam (probe) di ujungnya yang digunakan untuk memindai permukaan spesimen. Kantilever biasanya silikon atau silikon nitrida dengan radius ujung kelengkungan pada urutan nanometer. Ketika ujung dibawa ke dekat permukaan sampel, kekuatan antara ujung dan sampel mengarah pada penyimpangan kantilever sesuai dengan hukum Hooke. Tergantung pada situasi, kekuatan yang diukur dalam AFM termasuk kekuatan kontak mekanik, van der Waals, kekuatan kapiler, ikatan kimia, kekuatan elektrostatik, kekuatan magnetik (lihat kekuatan magnetik mikroskop, MFM), kekuatan, solvasi pasukan, dll. Bersama dengan kekuatan kuantitas dapat diukur secara bersamaan melalui penggunaan jenis tambahan dari probe pemindaian khusus (lihat mikroskop pemindaian, mikroskop ekspansinya termal, dll.). Pertanyaan: Apa yang biasanya dibuat dari mikroskop?
silikon atau silikon nitrida