Lihatlah bagian di bawah ini dan kemudian jawab pertanyaan setelahnya dalam bahasa yang sama dengan bagian:  Passage: AFM terdiri dari kantilever dengan ujung yang tajam (probe) yang digunakan untuk memindai permukaan spesimen. Cantilever biasanya silikon atau silikon nitrida dengan radius ujung kelengkungan pada urutan nanometer. Ketika ujung dibawa ke dekat permukaan sampel, gaya antara ujung dan sampel menyebabkan penyimpangan kantilever sesuai dengan hukum Hooke. Tergantung pada situasinya, gaya yang diukur dalam AFM meliputi gaya kontak mekanik, gaya van der Waals, gaya kapiler, ikatan kimia, gaya elektrostatik, gaya magnetik (lihat mikroskop gaya magnetik, MFM), gaya Casimir, gaya solvasi, dll. Seiring dengan gaya, kuantitas tambahan dapat secara bersamaan diukur melalui penggunaan jenis khusus dari probe (lihat pemindaian mikroskop termal, pemindaian mikroskop ekspansi joule, fototermik mikroskop, dll.).  Pertanyaan: Dari apa kantilever biasanya dibuat?
silikon atau silikon nitrida