参考下面的段落,然后以相同的语言回答问题:段落:AFM由一个带尖尖端 (探头) 的悬臂组成,用于扫描样本表面.悬臂通常是<unk>或<unk>化<unk>,尖端的曲率半径为纳米.当尖端靠近样本表面时,尖端和样本之间的力会根据胡克定律导致悬臂的偏移.根据情况,AFM中测量的力包括机械接触力,范德瓦尔斯力,毛细管力,化学键力,静电力,磁力 (见磁力显微镜,MFM),力,溶解力等.随着力量的同时测量,可以通过使用额外的专门类型的扫描探头 (见光谱显微镜,热扩展显微镜等) 来测量. 问题:在AFM中测量的力包括机械接触力,范德瓦尔斯力,毛细管力,化学键力,磁力 (见磁力显微镜,MFM),力,溶解力等.
<unk>或<unk>化<unk>