Héich-Resolutioun Transmissioun Elektronen Mikroskopie (oder HREM) ass eng Imaging Modus vun spezialiséiert Transmissioun Elektronen Mikroskopen (TEMs) datt fir direkt Imaging vun der atomarescher Struktur vun der Probe erlaabt. HRTEM ass e mächtegt Instrument Eegeschafte vun Materialien op der atomarescher Skala ze studéieren, wéi Halbleiter, Metaller, Nanopartikelen an sp2-bonded Kuelestoff (zB, Graphene, C nanotubes). Während HRTEM ass oft och benotzt fir héich Resolutioun Scannen TEM (STEM, meeschtens an héich Wénkel annular däischter Feld) ze referéieren, beschreift dësen Artikel haaptsächlech d'Imaging vun engem Objet vun der 2D räichlech Welleverdeelung am Fläch, am Bild Stand Amplitude, an Analogie zu engem "klassesch" Liicht Mikroskop.
Héich-Resolutioun Transmissiouns-Elektronenmikroskopie