Verweist op déi folgend Passage an äntwert duerno op d'Fro an der selwechter Sprooch wéi d'Passage:  Passage: Atomic Force Microscopy (AFM) oder Scanning Force Microscopy (SFM) ass eng ganz héich-Resolutioun Typ vun Scanning Sonde Mikroskopie (SPM), mat demonstréiert Resolutioun op der Uerdnung vu Fraktiounen vun engem Nanometer, méi wéi 1000 Mol besser wéi d'optesch Diffraktioun Limit.  Fro: Wat ass AFM?
eng ganz héich-Resolutioun Typ vun Scanning Sonde Mikroskopie