Verweist op déi folgend Passage an äntwert duerno op d'Fro an der selwechter Sprooch wéi d'Passage:  Passage: Den AFM besteet aus engem Cantilever mat engem scharfen Enn (Sonde) um Enn, dee benotzt gëtt fir d'Probenoberfläche ze scannen. De Cantilever ass normalerweis Silikon oder Silikonnitrid mat engem Tipp Krümmungsradius vun der Uerdnung vun Nanometer. Wann d'Spëtzt an der Géigend vun enger Probefläch bruecht gëtt, féieren d'Kräfte tëscht der Spëtzt an der Probe zu enger Oflenkung vum Cantilever no dem Hooke Gesetz. Ofhängeg vun der Situatioun, d'Kräfte, déi an der AFM gemooss ginn, enthalen mechanesch Kontaktkraaft, van der Waals Kräfte, kapillär Kraaft, chemesch Bindung, elektrostatesch Kraaft, magnetesch Kraaft (kuckt Magnetkraaftmikroskop, MFM), Casimir Kraaft, Solvatiounskräften, etc. Zesumme mat der Kraaft kënnen zousätzlech Quantitéiten gläichzäiteg duerch d'Benotzung vu spezialiséierte Zorten vu Sonden gemooss ginn (kuckt Scanning Thermal Mikroskopie, Scanning Joule Expansioun Mikroskopie, Photothermal Mikrospektroskopie, etc.).  Fro: Vu wat gëtt de Cantilever normalerweis gemaach?
Silizium oder Siliziumnitrid