Den AFM besteet aus engem Cantilever mat engem scharfen Tipp (Sonde) um Enn, dee benotzt gëtt fir d'Probenoberfläche ze scannen. De Cantilever ass normalerweis Silizium oder Siliziumnitrid mat engem Tipp Krümmungsradius op der Uerdnung vun Nanometer. Wann de Tipp an d'Probenoberfläche bruecht gëtt, féieren d'Kräfte tëscht dem Tipp an der Probe zu enger Oflenkung vum Cantilever no dem Hooke Gesetz. Ofhängeg vun der Situatioun, d'Kräfte, déi am AFM gemooss ginn, enthalen mechanesch Kraaftkontakt, van der Waals Kräften, kapillär Kräften, chemesch Bindungskräften, elektrostatesch Kräften, magnetesch Kräften (kuckt Magnéitkraftmikroskop, MFM), Kräften, Solvatiounskräften, asw.
Silizium oder Siliziumnitrid