Viitataan alla olevaan kohtaan ja vastataan kysymykseen sen jälkeen samalla kielellä kuin kohtaa:  Passage: Atomic force microscopy (AFM) tai scanning force microscopy (SFM) on erittäin korkean resoluution scanning probe microscopy (SPM) -mikroskooppi, jonka havaittu resoluutio on nanometrin murto-osuuksien määrä, yli 1000 kertaa parempi kuin optinen difraktio raja.  Kysymys: Mikä on AFM?
erittäin korkean resoluution skannausluotaimen mikroskooppi