Atomivoimamakroskopia (AFM) tai skannausvoimamakroskopia (SFM) on erittäin korkean resoluution skannausluotaimamakroskopia (SPM), jonka havaittu resoluutio on nanometrin murto-osuuksien järjestyksessä, yli 1000 kertaa parempi kuin optinen difraktio raja. Kysymys: Mikä on AFM?
erittäin korkean resoluution skannausluotaimen mikroskooppi