Viitataan alla olevaan kohtaan ja vastataan kysymykseen sen jälkeen samalla kielellä kuin kohtaa:  Passage: High-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) (tai HREM) on erikoistuneiden siirtomikroskooppien (TEM) kuvantamistila, joka mahdollistaa näytteen atomirakenteen suoran kuvantamisen. HRTEM on tehokas työkalu, jolla voidaan tutkia materiaalien ominaisuuksia atomiasteikolla, kuten puolijohteita, metalleja, nanopartikkeleita ja sp2-sitoutuneesta hiilestä (esim. grafeeni, C-nanoputket). Vaikka HRTEM-sanaa käytetään usein myös korkean resoluution skannaamiseen TEM (STEM, useimmiten korkean kulman renkainen tumma kenttätila), tämä artikkeli kuvaa pääasiassa kohteen kuvantamista tallentamalla 2D-tilantilaisen aallon amplitudin jakautumisen kuvan tasossa analogiassa "klassisen" valomikroskoopin kanssa. Epäselvyyden vuoksi tekniikkaa kutsutaan usein myös vaiheikontrastiksi TEM:ksi. Tällä hetkellä suurin vaiheikontrastilla TEM:ssä toteutettu pisteerotus on noin 0,5 ångströmiä (0,050 nm). Näissä pienissä mittakaavoissa kristallin yksittäiset atomit ja niiden puutteet voidaan selvittää. Kolmiulotteisten kristallien kohdalla voi olla tarpeen yhdistää eri kulmista otetut näkymät kolmiulotteiseen karttaan. Tätä tekniikkaa kutsutaan elektronikristallografiaksi.  Kysymys: Mitä HRTEM tarkoittaa?
Korkean resoluution säteilyelektromikroskooppi