Consulte a seguinte pasaxe e, a continuación, conteste a seguinte pregunta na mesma lingua que a pasaxe:  Pasaxe: O AFM consiste nun cantilever cun extremo afiado (sonda) que se usa para escanear a superficie da mostra. O cantilever é tipicamente de silicio ou nitruro de silicio cun raio de curvatura da punta da orde dos nanómetros. Cando a punta é traída á proximidade dunha superficie de mostra, as forzas entre a punta e a mostra provocan unha desviación do cantilever de acordo coa lei de Hooke. Dependendo da situación, as forzas que se miden en AFM inclúen a forza de contacto mecánica, as forzas de van der Waals, as forzas capilares, a unión química, as forzas electrostáticas, as forzas magnéticas (ver microscopio de forza magnética, MFM), as forzas de Casimir, as forzas de solvatación, etc. Xunto coa forza, as cantidades adicionais poden medirse simultaneamente a través do uso de tipos especializados de sondas (ver microscopía térmica de barrido, microscopía de expansión de Joule de barrido, microscopía fototérmica, etc.).  Pregunta: De que se fai normalmente o cantilever?
silicio ou nitruro de silicio