Consulteu el passatge següent i responu a la pregunta posteriorment en el mateix idioma que el passatge:  Passatge: L'AFM consta d'un cantilever amb una punta afilada (sonda) al seu extrem que s'utilitza per escanejar la superfície de la mostra. El cantilever és típicament de silici o nitrur de silici amb un radi de la punta de la curvatura de l'ordre de nanòmetres. Quan la punta és portada a la proximitat d'una superfície de mostra, les forces entre la punta i la mostra condueixen a una desviació del cantilever d'acord amb la llei de Hooke. Depenent de la situació, les forces que es mesuren en l'AFM inclouen la força de contacte mecànica, les forces de van der Waals, les forces capil·lars, l'enllaç químic, les forces electrostàtiques, les forces magnètiques (vegeu microscopi de força magnètica, MFM), les forces de Casimir, les forces de solvació, etc. Juntament amb la força, es poden mesurar quantitats addicionals simultàniament mitjançant l'ús de tipus especialitzats de sondes (vegeu microscòpia tèrmica d'escaneig, microscòpia d'expansió de joule d'escaneig, microscòpia fototèrmica, etc.).  Pregunta: De què es fa normalment el cantilèver?
silici o nitrur de silici