Citește pasajul de mai jos și apoi răspunde la întrebarea de mai jos în aceeași limbă ca și pasajul:  Trecerea: AFM constă dintr-un cantilever cu un vârf ascuțit (sonda) la capătul său, care este utilizat pentru scanarea suprafeței eșantionului. Cantileverul este de obicei silicon sau nitrid de siliciu cu o rază de curbură a vârfului de ordinul nanometrilor. Când vârful este adus în apropierea unei suprafețe de eșantionare, forțele dintre vârf și eșantionare duc la o deflectare a cantileverului în conformitate cu legea lui Hooke. În funcție de situație, forțele care se măsoară în AFM includ forța mecanică de contact, forțele van der Waals, forțele capilare, legătura chimică, forțele electrostatice, forțele magnetice (a se vedea microscopul cu forță magnetică, MFM), forțele Casimir, forțele de solvație etc. Alături de forță, cantități suplimentare pot fi măsurate simultan prin utilizarea de tipuri specializate de sonde (a se vedea microscopie termică de scanare, microscopie de expansiune Joule de scanare, microscopie fototermală, etc.).  Întrebare: Din ce este făcut de obicei cantileverul?
siliciu sau nitrid de siliciu