Microscopia cu forță atomică (AFM) sau microscopia cu forță de scanare (SFM) este un tip de microscopie cu sondă de scanare (SPM) de foarte înaltă rezoluție, cu o rezoluție demonstrată pe ordinea fracțiunilor unui nanometru, de peste 1000 de ori mai bună decât limita de difracție optică. Întrebare: Ce este AFM?
un tip de microscopie cu sondă de scanare cu rezoluție foarte ridicată