以下の段落を参照し,次に同じ言語で質問に答えます. 段落: 均一な空間は,仮測量システムの代替で等価な方法で定義されることがあります.これは,機能解析 (セミノームによって提供される仮測量) で特に有用なアプローチです. より正確に言えば, f: X × X → R が集合 X の仮測量であるとする. a > 0 の逆画像 Ua = f−1 (([0,a]) は,均一性の基本的環のシステムを形成することを示すことができます. Ua によって生成される均一性は,単一の仮測量 f によって定義される均一性です. 一定の著者は,仮測量ゲージ空間で定義されるトポロジーを持つ空間を仮測量空間と呼びます. 質問: 均一な空間はどこで適用できるのですか?
機能分析