AFMは,標本の表面をスキャンするために使用される,端に鋭い先 (探査機) をついているカントリーバーで構成されている.カントリーバーは,通常,ナノメートル程度の傾斜半径を持つシリコンまたはナトリウムシリコンナトリドである.先端がサンプル表面に近づくと,先端とサンプル間の力は,フック定理に従ってカントリーバーの傾斜につながる.状況に応じて,AFMで測定される力は,機械的な接触力,ヴァン・ダー・ワールズ力,毛細血管力,化学結合力,静電力,磁気力 (磁気力顕微鏡,MFM),力,溶解力などを含みます. フォースの量とともに,同時に,特殊なタイプのスキャニングプローブ (スキャニングプローブ,光学顕微鏡,熱拡大顕微鏡など) を使用して測定することができます. 質問: フォトスキャニング顕微鏡から,通常,何をするのですか?
シリコンまたはナトリウムシリコン