Atominės jėgos mikroskopas (AFM) arba skenavimo jėgos mikroskopas (SFM) yra labai aukštos raiškos skenavimo zondų mikroskopas (SPM), kurio išaiškinimas yra nanometro dalelės, daugiau nei 1000 kartų geresnis nei optinė difrakcijos riba.
labai didelės skiriamosios gebos skenavimo zondų mikroskopas