La AFM konsistas el kantilevo kun akra pinto (sondo) ĉe ĝia fino kiu estas uzata por skanado de la specimena surfaco. La kantilevo estas tipe silicio aŭ silicia nitrido kun pinto radiuso de kurbeco sur la ordo de nanometroj. Kiam la pinto estas alportita en proksimeco de specimena surfaco, fortoj inter la pinto kaj la specimeno kondukas al deflekto de la kantilevo laŭ la leĝo de Hooke. Depende de la situacio, fortoj kiuj estas mezuritaj en AFM inkludas mekanikan kontaktforton, van der Waals fortojn, kapilarfortojn, kemiajn ligfortojn, elektrostatikajn fortojn, magnetajn fortojn (vidu magnetaj fortoj, MFM), fortojn, solvajn fortojn, ktp. Kun fortaj kvantoj povas samtempe esti mezuritaj per la uzo de specialigitaj specoj de skanado de sondoj (vidu termikaj ekspansioj, mikroskopo, mikroskopo).
silicio aŭ silicia nitrido