Rigardu la malsupran trairejon kaj poste respondu la demandon poste en la sama lingvo kiel la trairejo:  Trairejo: La AFM konsistas el kantilevo kun akra pinto (sondo) ĉe ĝia fino, kiu estas uzata por skanado de la specimena surfaco. La kantilevo estas tipe silicio aŭ silicia nitrido kun pintradio de kurbeco sur la ordo de nanometroj. Kiam la pinto estas alportita en proksimecon de specimena surfaco, fortoj inter la pinto kaj la specimeno kondukas al deflekto de la kantilevo laŭ la leĝo de Hooke. Depende de la situacio, fortoj kiuj estas mezuritaj en AFM inkludas mekanikan kontaktforton, van der Waals-fortojn, kapilarajn fortojn, kemiajn ligojn, elektrostatikajn fortojn, magnetajn fortojn (vidu magneta forto-mikroskopio, MFM), Casimir-fortojn, solvatfortojn, ktp. Kune kun forto, kromaj kvantoj povas samtempe esti mezuritaj per la uzo de specialigitaj specoj de sondoj (vidu skananta termika mikroskopo, skananta ĵula ekspanca mikroskopo, fototerma mikroskopo, ktp.).  Demando: El kio estas kutime farita la kantilevo?
silicio aŭ silicia nitrido